IR-2双波段发射率测试仪仪器特点

1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。

2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。

3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射(MR)探测通道外，还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道，从而确保了仪器的测量精度。

4．在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，进一步提高了仪器性能。

5．本仪器操作简单、使用方便、测量快速。

6．可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内进行测试。

7．在测量过程中不损伤被测样品。

8．本仪器带RS-232串口及复位键RST。

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热辐射的基本概念

任何物体在发出辐射能的同时，也不断吸收周围物体发来的辐射能。一物体辐射出的能量与吸收的能量之差，就是它传递出去的净能量。物体的辐射能力（即单位时间内单位表面向外辐射的能量），随温度的升高增加很快。一般说来，当一物体受到其他物体投来的辐射（能量为Q）时,其中被吸收转为热能的部分为QA,被反射的部分为QR，透过物体的部分为QD,显然这些部分与总能量之间有下式所示的关系：QA QR QD=Q如果把A=QA/Q称为吸收率,R=QR/Q称为反射率,D=QD/Q称为穿透率，则有：A R D=1若物体的A=1，R=D=0，即到达该物体表面的热辐射的能量完全被吸收，此物体称为绝1对黑体,简称黑体。气体对热辐射能几乎没有反射能力，在一般温度下的单原子和对称双原子气体（如Ar、He、H2、N2、O2等），可视为透热体，多原子气体（如CO2、H2O、SO2、NH3、CH4等）在特定波长范围内具有相当大的吸收能力。

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热发射率仪的特点

大屏幕LED显示设备的状态，测量结果和操作菜单，触摸屏面板确保所有功能轻松实现。设备的核心部件是半球形的黑体，由于发射元件涂有黑色涂层，因此具备近乎理想黑体的所有属性。3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射(MR)探测通道外，还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道，从而确保了仪器的测量精度。发射元件的工作温度为100℃，黑体外壳的其余部分与发射元件热绝缘。因此在仪器运行过程中仅产生轻微热量。

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热发射率仪——原理介绍

新型发射率测量仪是采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率的。它能测量常温样品在3μm-5μm，8μm-14μm和1μm-22μm三个波段的发射率。镀膜玻璃的质量控制热保护绝缘玻璃的的低U-值取决于玻璃镀膜的低发射率，YT/TIR100对镀膜的质量控制以及实验室中开发新镀膜非常有用。当有特殊需要时，它可通过专用的控温装置在-100℃~600℃任何温度范围内加热或冷却样品，从而对样品进行发射率变温测量。

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