TIR100 – 2 热发射率仪

数秒钟内快速确定热发射率

YT/TIR 100-2可在数秒钟内测量物体表面的热发射率。即使是特殊结构和曲面也可以直接测量，该设备自成一体，包含全部操作和电子元件，可测量和处理传感器信号和显示数据，以及控制黑体温度。

YT/TIR 100-2是众所周知的YT/TIR 100的更新设备，我们不但在YT/TIR 100-2中融入了YT/TIR 100的可靠技术，还高度集成了电子元件和舒适的触摸屏使设备更加轻巧和易于使用。

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IR-2双波段发射率测试仪

科学院技术物理所研制的IR-2双波段发射率测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。即使是特殊结构和曲面也可以直接测量，该设备自成一体，包含全部操作和电子元件，可测量和处理传感器信号和显示数据，以及控制黑体温度。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。

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热发射率仪介绍

内部微控制器可将发射元件温度调节至恒定的100℃，同时记录传感器信号并配合存储的标准值将其转换为发射率的值。

仪器内部的逆向热熔丝防止发射元件加热时产生过多热量，并可在125℃中断加热过程。

热电堆传感器将反射的热辐射转换为电压信号,超过97%的辐射能的波长在2.5 μm和40 μm范围之间。

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