介绍一下手持式光谱仪的应用及原理

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手持式光谱仪道理手持式光谱仪是一哪类基于XRF光谱分析技巧的光谱分析仪器,当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线以及原子产生碰撞时,驱赶每个内层电子从而出列每个空穴,使全部原子体制处于不安定的形态,当较外层的电子跃迁到空穴时,形成一次光电子,击出的光子或许再次被摄取而逐出较外层的另每个次级光电子,产生俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应.所逐出的次级光电子称为俄歇电子.

当较外层的电子跃入内层空穴所开释的能量不被原子内摄取,而因此光子方式发出,便形成X 射线荧光,其能量相等两能级之间的能量差.所以,射线荧光的能量或波长是特征性的,以及元素有一一对应的关连.由Moseley定律可知,只有测出荧光X射线的波长,就不妨晓得元素的品哪类,这便是荧光X射线定性分析的底子.

其余,荧光X射线的强度以及相对元素的含量有必需的关连,据此,不妨正在元素定量分析.X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光旗号交替成易于丈量的电旗号来获得待测元素的特征消息。

光谱仪处理的不确定度

光谱仪数据处理过程中

在这里，数据处理过程是指从测量的谱线强度计算样品中元素浓度的过程，包括根据标准样品建立校正和根据校正计算未知样的浓度。在采用线性回归方法校正的过程中，校正模型的选用、基体校正方法、谱线重叠的校正方法、标准数据的准确性至分析浓度的范围等都对分析结果的准确度产生影响。要对这些因素进行逐一分析是比较困难的，但对于一些比较简单的体系，还是能作比较的计算。Rashmi等就对用散射法测定轻基体中Fe时的不度进行了较的分析。

光谱仪标准

前面对X射线荧谱仪分析中的度来源进行了介绍，下面介绍几个主要过程的标准度估计方法。测量结果的标准度实际上是由多个度分量合成的。X射线荧谱分析中度的来源分别从以下几个方面考虑，即取样(ul)、样品制备(u2)、强度测量(u3)和回归分析(u4，包括校正模型、校正系数的选择和标准样品标准值的准确性)。在实际分析中，其中的一个或几个可能是对分析结果的合成标准度起决定作用的分量，那么就应采取措施尽量减小其度。此处的标准度均采用相对标准度，以免量纲。如不说明，标准度均指相对标准度，实验标准偏差也指相对标准偏差。

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光谱仪的维修原则

“先静后动” ，先检查静态器件和参数，再检查动态器件和参数。

有些器件及参数是工作在静态的，如开关通断、电阻值、电容容量、电路工作点、限压阀触点、过压过流保护触点等,这些器件及参数可以直接测量的，检查比较容易，所以可以***行直观检查。对于一些动态数据如电压、电流、压力、流量、温度、湿度、数据通讯等。在排除静态元件或参数无异常之后。再进行动态数据(参数)的检查,此工作-般都是在仪器开机状态下进行。