XRD可以用于定量分析哪些内容？

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A. 样品的平均晶粒尺寸，基本原理：当 X 射线入射到小晶体时，单晶X射线衍射分析仪哪家好，其衍射线条将变得弥散而宽化，晶体的晶粒越小， x 射线衍射谱带的宽化程度就越大。因此晶粒尺寸与XRD谱图半峰宽之间存在一定的关系， 即谢乐公式（Scherrerequation），下期会详细分析其原理与注意事项。

对于对于负载型催化剂表面的金属颗粒，其颗粒大小 d（单位 nm）与其分散度 D 之间可以简单地换算：d ≈ 0.9/D (注：0.9这个常数是经验值) 。

B. 样品的相对结晶度：一般将***强衍射峰积分所得的面积（As）当作计算结晶度的指标，与标准物质积分所得面积(Ag)进行比较，结晶度=As/Ag*100%。

XRD射线衍射仪在物相含量的定量分析：

主要有K值法也叫RIR方法和Rietveld全谱精修定量等。其中，RIR法的基本原理为1:1混合的某物质与刚玉(Al2O3)，其***强衍射峰的积分强度会有一个比值，X射线衍射分析仪，该比值为RIR值。通过将该物质的积分强度/RIR 值总是可以换算成Al2O3的积分强度。对于一个混合物而言，单晶X射线衍射分析仪报价，物质中所有组分都按这种方法进行换算，***后可以通过归1法得到某一特定组分的百分含量。

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X射线衍射分析仪的应用范围：

1、物相定性分析

2、结晶度及非晶相含量分析

3、结构精修及解析

4、物相定量分析

5、点阵参数准确测量

6、无标样定量分析

7、微观应变分析

8、晶粒尺寸分析

9、原位分析

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