XRD可以用于定量分析哪些内容？

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A. 样品的平均晶粒尺寸，基本原理：当 X 射线入射到小晶体时，其衍射线条将变得弥散而宽化，晶体的晶粒越小， x 射线衍射谱带的宽化程度就越大。因此晶粒尺寸与XRD谱图半峰宽之间存在一定的关系， 即谢乐公式（Scherrerequation），下期会详细分析其原理与注意事项。

对于对于负载型催化剂表面的金属颗粒，其颗粒大小 d（单位 nm）与其分散度 D 之间可以简单地换算：d ≈ 0.9/D (注：0.9这个常数是经验值) 。

B. 样品的相对结晶度：一般将最强衍射峰积分所得的面积（As）当作计算结晶度的指标，单晶X射线衍射仪多少钱，与标准物质积分所得面积(Ag)进行比较，结晶度=As/Ag*100%。

X射线衍射仪的基本构造

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(1) 高稳定度X射线源 提供测量所需的X射线， 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长， 调节阳极电压可控制X射线源的强度。

(2) 样品及样品位置取向的调整机构系统 样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。

(3) 射线检测器 检测衍射强度或同时检测衍射方向，X射线衍射仪， 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。

(4) 衍射图的处理分析系统 现代X射线衍射仪都附带安装有专用衍射图处理分析软件的计算机系统， 它们的特点是自动化和智能化。

XRD实验条件选择实验参数选择

实验参数的选择对于成功的实验来说是非常重要的。如果实验参数选择不当不仅不能获得好的实验结果，甚至可能将实验引入歧途。在衍射仪法中许多实验参数的选择与德拜法是一样的。与德拜法不同的实验参数是狭缝光栏、时间常数和扫描速度。防散射光栏与接收光栏应同步选择。选择宽的狭缝可以获得高的射线衍射强度，但分辨率要降低;若希望提高分辨率则应选择小的狭缝宽度。扫描速度是指探测器在测角仪圆周上均匀转动的角速度。扫描速度对衍射结果的影响与时间常数类似，扫描速度越快，衍射线强度下降，衍射峰扫描方向偏移，单晶X射线衍射仪哪家好，分辨率下降，一些弱峰会被掩盖而丢失。但过低的扫描速度也是不实际的。

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