X射线衍射仪的基本信息：

X射线衍射仪分为单晶衍射仪和多晶衍射仪两种。单晶衍射仪的被测对象为单晶体试样，XRD射线衍射仪，主要用于确定未知晶体材料的晶体结构。

基本原理：在一粒单晶体中原子或原子团均是周期排列的。将X射线（如Cu的Kα辐射）射到一粒单晶体上会发生衍射，由对衍射线的分析可以解析出原子在晶体中的排列规律，也即解出晶体的结构。

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X射线衍射仪的应用有什么？

纳米材料粒径的表征

纳米材料的颗粒度与其性能密切相关。纳米材料由于颗粒细小，极易形成团粒，采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。谢乐微晶尺度计算公式为:

其中λ为X射线波长，βHKL为衍射线半高峰宽处因晶粒细化引起的宽化度，单晶XRD射线衍射仪报价，测定过程中选取多条低角度(2θ≤50°)X射线衍射线计算纳米粒子的平均粒径。

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X射线衍射仪在点阵参数的测定中起到的作用

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点阵参数是物质的基本结构参数，任何一种晶体物质在一定状态下都有一定的点阵参数。测定点阵参数在研究固态相变、确定固溶体类型、测定固溶体溶解度曲线、测定热膨胀系数等方面都得到了应用。点阵参数的测定是通过X射线衍射线位置的测定而获得的，通过测定衍射花样中每一条衍射线的位置均可得出一个点阵常数值。

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