荧光光谱寿命分析仪相关介绍

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荧光光谱包括激发谱和发射谱两种。激发谱是荧光物质在不同波长的激发光作用下测得的某一波长处的荧光强度的变化情况，也就是不同波长的激发光的相对效率；发射谱则是某一固定波长的激发光作用下荧光强度在不同波长处的分布情况，也就是荧光中不同波长的光成分的相对强度。一般来说，激发光谱与紫外- 可见吸收光谱的形状是一致的，且与荧光光谱具有镜像关系。但是如果物质的三重态量子产率比较高，那么它被激发后系间窜越的几率很大， 荧光激发谱的形状会受到影响， 导致与紫外吸收光谱的形状不完全一致。

荧光光谱分析仪

仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的较大尺寸要求为直径51mm，高40mm.

荧光测试中激发光谱，荧光光谱分别是什么作用

荧光激发光谱：让不同波长的激发光激发荧光物质使之发生荧光，而让荧光以固定的发射波长照射到检测器上，然后以激发光波长为横坐标，以荧光强度为纵坐标所绘制的图，即为荧光激发光谱.荧光发射光谱的形状与激发光的波长无关 .

荧光发射光谱：使激发光的波长和强度保持不变，而让荧光物质所发出的荧光通过发射单色器照射于检测器上，亦即进行扫描，以荧光波长为横坐标，分析仪厂家，以荧光强度为纵坐标作图，即为荧光光谱，又称荧光发射光谱

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