氧化铝 Al2O399.99颗粒 粉末
氧化镁 MgO99.99颗粒 粉末
氧化钛 TiO TiO2 Ti3O599.99颗粒 粉末 压片
氧化铪 HfO299.99颗粒 粉末 压片
氧化钽 Ta2O599.99颗粒 粉末 压片
氧化铟 In2O399.99颗粒 粉末
氧化硅 SiO SiO299.99 99.999颗粒 粉末
氧化锆 ZrO299.99颗粒 粉末 压片
氧化铌 Nb2O599.99颗粒 粉末
氧化锌 ZnO99.99颗粒 粉末 压片
氟化镁 MgF299.99颗粒 粉末
氟化镱 YbF399.99颗粒 压片
氟化钇 YF399.99颗粒 粉末
硫化锌 ZnS99.99颗粒 粉末 压片
硒化锌 ZnSe99.999颗粒 粉末
钛酸镧 La2O7Ti1299.99颗粒
钛酸钡 BaTiO399.99颗粒
钛酸锶 SrTiO399.99颗粒
冰晶石 Na3AlF699.99颗粒
氧化铟锡 ITO 99.99颗粒 粉末 压片
高纯度的锗是半导体材料。从高纯度的氧化锗还原,再经熔炼可提取而得。掺有微量特定杂质的锗单晶,高纯铂片 铂颗粒 铂丝 铂块,可用于制各种晶体管、整流器及其他器件。锗的化合物用于制造荧光板及各种高折光率的玻璃。 锗单晶可作晶体管,是一代晶体管材料。锗材用于辐射探测器及热电材料。高纯锗单晶具有高的折射系数,高纯铂,对红外线透明,不透过可见光和紫外线,可作专透红外光的锗窗、棱镜或透镜。之后成为***早应用的导体元素。
中诺新材分析测试设备——X射线衍射仪
Rigaku 靶材晶向比例分析系统(XRD)可直接用于检测直径在500mm以下的固体金属材料的内部织构。X射线是一种波长(0.06-20nm)很短的电磁波,当X 射线照射晶态结构时,将受到晶体点阵排列的不同原子或分子所衍射。当用波长为λ的单色X射线照射到两个晶面间距为d的晶面时会发生布拉格定律衍射,即2dsinθ=nλ(n为整数)θ称为衍射角(入射或衍射X射线与晶面间夹角)。应用X射线在晶体中的衍射现象。特征X射线作用于安装在测角仪上的晶体后产生衍射点,高纯铂靶材 金铂合金靶材,通过检测器记录衍射点的强度数据。通过计算机控制完成衍射的自动寻峰、测定晶胞参数、收集衍射强度数据,统计系统消光规律,确定空间群等。进而计算晶体结构。
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