Flex One 显微光致发光光谱仪

光致发光(photoluminescence) 即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，在半导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波长如325nm、532nm、785nm 等）激发材料（如GaN、ZnO、GaAs 等）产生荧光，通过对其荧光光谱（即PL 谱）的测量，分析该材料的光学特性，如禁带宽度等。同时还方便用户增加超低温样品制冷机，非常方便于稀土发光材料的发光性能研究。光致发光可以提供有关材料的结构、成分及环境原子排列的信息，是一种非***性的、高灵敏度的分析方法，因而在物理学、材料科学、化学及分子生物学等相关领域被广泛应用。

OmniFluo“卓谱”组合式荧光光谱测量系统

● OmniFluo “卓谱”系列——基本型

基本型OmniFluo “卓谱”系统，主要实现荧光光谱和荧光激发光谱测量，其系统架构与荧光分光光度计基本一致，却有效的增加了近红外升级功能，扩展了测量范围。

● OmniFluo “卓谱”系列——PL扩展型

PL扩展型OmniFluo “卓谱”系统，PL/PLE的整合测量，有效解决了氙灯光源在某些实验中的激发光能量不足的问题；同时还方便用户增加超低温样品制冷机，非常方便于稀土发光材料的发光性能研究。***artFluo系列稳态荧光光谱仪***artFluo-QY是卓立汉光公司首台基于单光子计数技术的一体式稳态荧光光谱仪。● OmniFluo “卓谱”系列——TRA扩展型

TRA扩展型OmniFluo “卓谱”系统，主要实现荧光光谱和透射、反射/吸收（TRA）光谱测量功能，可用于透光型材料的多种光谱表征。

***artFluo系列稳态荧光光谱仪

光谱校正

未经校正的光谱图由于存在光源光谱及光路系统的光学传递函数等各项因素的干扰，会造成难以预测的谱线失真，进而影响*终的光谱结论。***artFluo-QY使用内置标准探测器模块以及出场测试的校正数据，为整个系统提供光谱校正支持。

***artFluo-QY的激发光部分包含了保准参考探测器，在每次测量时均经过标准参考探测器校正，保证150W氙灯在各个波长激发能量的一致性；***artFluo-QY的荧光检测部分在出厂时都经过标准光源校正光谱响应度，将发射谱的光学部件与探测器的光谱响应度借由标准光源作修正得到系统光谱响应度曲线，荧光普在各波长的强度因此具有可比性，提供更详实的图谱数据，做出更为正确的分析。PL荧光测量系统通常是用较强的单色光（如激光器等）激发样品/材料（如GaN/ZnO等）产生荧光，通过对其荧光光谱的测量，分析该材料的光学特性。