超低温样品室附件　　

Flex One显微光致发光光谱仪可以选配超低温样品室，标准制冷温度可达10-20K，*低可选1.7K，采用闭循环结构，使用过程中无需添加冷媒。

应用举例InGaN/GaN多量子阱的PL谱和EL谱测试

● 样品提供：KingAbdullahUniversity ofScience and Technology提供的基于蓝宝石衬底MOCVD 生长的 InGaNGaN 量子阱● 测试条件：325nm激发，功率30mW● 光谱范围：340-700nm

1. 光致发光(PL)光谱测量

分别针对材料的正极( 红色) 和负极( 绿色) 测试得到光致发光光谱曲线如下，GaN 的本征发光峰365nm 附近以及黄带，InGaN 的发光峰475nm 附近。2. 电致发光(EL)光谱测量

将材料的正负极接到直流电源的正负极，电压加到2.5V 时可以有明显的蓝光发射，测量其电致发光光谱曲线如下（红色），峰值在475nm 附近。

***artFluo系列稳态荧光光谱仪

挑战灵敏度极限——“单光子计数技术”

“单光子计数技术”是利用在弱光下光电倍增管输出信号自然离散化的特点，采用精密的脉冲幅度甄别技术和数字计数技术，把淹没在背景噪声中的弱光信号提取出来。当弱光照射到光电子阴极时，每个入射光子以一定的概率（即量子效率）使光阴极发射一个电子，这个光电子经倍增系统的倍增，*后在阳极回路中形成一个电流脉冲，通过负载电阻形成一个电压脉冲，这个脉冲称为单光子脉冲。而“单光子计数技术”可测得低至单个不重叠的光子能量脉冲，通过精密的鉴别手段进行工作，从而实现探测“单光子”级别微弱信号的目的。***artFluo系列稳态荧光光谱仪挑战灵敏度极限——“单光子计数技术”“单光子计数技术”是利用在弱光下光电倍增管输出信号自然离散化的特点，采用精密的脉冲幅度甄别技术和数字计数技术，把淹没在背景噪声中的弱光信号提取出来。

系统灵敏度

***artFluo-QY中采用的单光子计数技术，提供了峰值计数速率超过100Mcps，标准条件下水拉曼信噪比达到3000:1以上的测试结果，相比较于常规的荧光光谱仪，灵敏度提高了10-100倍，更有利于微弱发光样品的检测，可以检出低至1×10-15mol/L浓度的荧光素。其所具备的高灵敏度为各种普通荧光及微弱荧光信号检测提供了可靠保障。这样的设计，将传统意义对快速探测器、高速电路的在时间响应和分辨率上的要求转而由相对容易实现光路延迟来完成（1ns光程=0。

OmniPL-MicroS组合式显微光致发光光谱系统

OmniPL-MSA-325型显微PL光谱系统主要技术参数（垂直光路型）系统指标与功能

● 荧光光谱测量范围：350-800nm

● 激发波长：325nm

● 样品形态：固态（片状、粉末）

● 预留CCD接口

● 可升级电致发光（EL）测量

● 可升级扩展至NIR波段测量（~1600nm）

OmniPL-MSB-325型显微PL光谱系统主要技术参数（水平光路型）系统指标与功能

● 样品形态：固态（片状、粉末）、液态

● 可升级至超低温（10K）测量功能