OmniFluo900系列稳态瞬态荧光光谱仪

本系列荧光光谱仪，还可搭配牛津仪器（Oxford Instruments）公司的温控单元及滨松(Hamamatsu)公司的各类高灵敏度探测器，便捷地在不同波段范围内获取荧光信号的温度扫描光谱，从而有效地从根本上消除传统荧光分光光度计波长测量范围有限及光谱测试种类不足等各类缺陷。84nm，狭缝高4mm，宽10注③可选旋转、磁搅拌、水浴样品架注④可选R928（200-900nm），R13456（185-980nm），H10330C-75（950-1700nm）,R5509-73（300-1700nm）。

注? 水拉曼测试条件：激发波长350nm，扫描范围370-450nm，狭缝带宽5nm，积分时间1s

注? 测试条件：1200g/mm 500nm闪耀光栅，435.84nm，狭缝高4mm，宽10

注③ 可选旋转、磁搅拌、水浴样品架

注④ 可选R928（200-900nm），R13456（185-980nm），H10330C-75（950-1700nm）,

R5509-73（300-1700nm）

Flex One 显微光致发光光谱仪

光致发光(photoluminescence) 即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，在半导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波长如325nm、532nm、785nm 等）激发材料（如GaN、ZnO、GaAs 等）产生荧光，通过对其荧光光谱（即PL 谱）的测量，分析该材料的光学特性，如禁带宽度等。光致发光可以提供有关材料的结构、成分及环境原子排列的信息，是一种非***性的、高灵敏度的分析方法，因而在物理学、材料科学、化学及分子生物学等相关领域被广泛应用。OmniPL系列稳态荧光光谱测量系统采用模块化设计，在满足PL光谱测量的同时，用户可以根据不同的实验需求，选择不同的配件，灵活的进行系统功能的扩展。

典型荧光光谱系统架构典型荧光光谱系统由如下几个部分构成：

· 激发光源。通常采用氙灯配合单色仪选择激发波长，或者采用激光器。

· 外光路。包含聚焦、汇聚、滤光等多个功能元件以及样品调节装置。

· 荧光光谱仪。通常采用高通光效率、高分辨率光谱仪，推荐采用影像校正光谱仪，可以进一步提升系统的检测性能。

· 探测器。通常采用CCD探测器或高灵敏度的PMT（配合光子计数器、锁相放大器等高灵敏电子学设备）。

· 数据处理单元。包括计算机和软件。

北京卓立汉光仪器有限公司是一家集光学、精密机械、电子、计算机技术于一体的高新技术企业。卓立汉光自1999年起，通过数年的不断努力，成长为光电仪器知名厂商之一。