背面点胶一致性
对封装点胶的形貌测试结果分析,我们发现背面的点胶有漏胶的情况,整个点胶过程都是不太稳定的。点胶的厚度100um±3um,出现拉丝,漏胶等缺陷,一般检测方式很难发现,但这种缺陷就是整个模块的短板。这种情况的发生,缺陷检测价格,就是点胶量和速度控制不到位。通过检测的结果,有针对性的改善点胶工艺。
除了在OLED点胶检测,3D形貌测试仪还可以对OLED玻璃表面、芯片结构,多层膜进行形貌检测。及时发现缺陷,及时反馈问题,才保证整个产线产出的都是精品,让OLED屏在更多的领域越走越远。
鹰眼系列3D形貌测试仪,除了以上应用,缺陷检测,还在精密段差、精密点胶胶线截面/厚度检测、3D玻璃弧边尺寸检测和多层光学薄膜厚度检测上有广泛的应用。
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光谱共焦传感器优势及特点
1、稳定量测各类材质,例如金属/陶瓷/镜面/玻璃等
2、适用于各种形貌(包含深孔/斜面/弧面)之特征尺寸量测,缺陷检测费用,例如高度/段差/厚度/平面度/轮廓度等。
3、高温高压等严苛操作条件下亦能适应正常使用。
4、测头结构轻巧,缺陷检测公司,易整合于各行业之自动化测量应用。
5、结构轻巧且内部不含电子零件而不受环境干扰影响。
6、独特多层材质量测算法,可量测透明/半透明多层材质间之厚度或间隙。
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3D形貌测试仪放置位置
虽然AOI可用于生产线上的多个位置,各个位置可检测特殊缺陷,但AOI检查设备应放到一个可以尽早识别和改正缺陷的位置。有三个检查位置是主要的:锡膏印刷之后如果锡膏印刷过程满足要求,那么ICT发现的缺陷数量可大幅度的减少。典型的印刷缺陷包括以下几点:A.焊盘上焊锡不足。B.焊盘上焊锡过多。C.焊锡对焊盘的重合不良。D.焊盘之间的焊锡桥。在ICT上,相对这些情况的缺陷概率直接与情况的严重性成比例。轻微的少锡很少导致缺陷,而严重的情况,如根本无锡,几乎总是在ICT造成缺陷。焊锡不足可能是元件丢失或焊点开路的一个原因。尽管如此,决定哪里放置AOI需要认识到元件丢失可能是其它原因下发生的,这些原因必须放在检查计划内。这个位置的检查***直接地支持过程跟踪和特征化。这个阶段的定量过程控制数据包括,印刷偏移和焊锡量信息,而有关印刷焊锡的定性信息也会产生。回流焊前检查是在元件贴放在板上锡膏内之后和PCB送入回流炉之前完成的。这是一个典型地放置检查机器的位置,因为这里可发现来自锡膏印刷以及机器贴放的大多数缺陷。在这个位置产生的定量的过程控制信息,提供高速片机和密间距元件贴装设备校准的信息。这个信息可用来修改元件贴放或表明贴片机需要校准。这个位置的检查满足过程跟踪的目标。回流焊后在***T工艺过程的***后步骤进行检查,这是AOI流行的选择,因为这个位置可发现全部的装配错误。回流焊后检查提供高度的安全性,因为它识别由锡膏印刷、元件贴装和回流过程引起的错误。
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