EVM系列测量仪是我公司生产的精密影像测量仪系列，具有功能强大、性能稳定、精度高、操作简单、维护方便等特点。可将以往用肉眼在传统显微镜下所观察到的影像将其数字化，并将其储存入计算机中作各式量测、绘图再可将所得之资料储存于计算机中，以便日后存盘或电子邮件的发送。该仪器适用于以二座标测量为目的一切应用领域如：品质检测、工程开发、绘图等用途。方便测量前角、后角、螺旋角、齿隙角等专用刀具角度，还可以进行基本几何测量（圆直径、长度、刃宽、芯厚、粗糙度等）。

相对于其他产品系列比较而言，该系列具有结构简单、承载能力强、工件放置空间开阔、装卸便捷等特点。

1. 型号规格：HK-EVM-1510G
2. 主要技术指标：

2.1测量范围：X=150mm，Y=100mm，Z=150mm

2.2金属台尺寸(mm)：354×228

2.3玻璃台尺寸(mm)：210×160

2.4外型尺寸L*W*H：X=540mm，Y=560mm，Z=850mm

2.5仪器重量：100kg

2.6 X.Y坐标示值误差≤(2.5+L/200)μm(L为被测长度单位:mm)

2.7分辨率：0.0005mm

2.8***大承受重量：30kg

2.9环境要求：

• 温度范围：20&plu***n;5℃，0.5℃/h
• 湿度范围：45%-65%
• 电    源：220V(AC) ，50Hz ，30W

l   产品参数：

l   u  变焦镜筒：采用光学变焦物镜，光学放大倍率0.7X~4.5X，视频总放大倍率40X~400X连续可调，物方视场：10.6-1.6mm，按客户要求选配不同倍率物镜。

l   u  摄像机：配备低照度***机芯1/3′彩色CCD摄像机，图像表面纹理清晰，轮廓层次分明，保证拥有高品质的测量画面。可以升级选配1/2′CMOS130万像素摄像机。

l   u  底座：仪器底座采用高精度天然花岗石，稳定性高，硬度高，不易变形。

l   u  光栅尺：仪器平台带有高精度光栅尺（X,Y,Z三轴），解析度为0.001mm。Z轴通过二次聚焦可实现对沟槽、盲孔的深度进行测量。

l   u  光源：采用长寿命LED环形冷光源（表面光及底光），使工件表面照明均匀，边缘清晰，亮度可调。

l   u  导轨：双层工作平台设计，配备高精度滚动导轨，精度高，移动平稳轻松。

l   u  丝杆：X,Y轴工作台均使用无牙光杆摩擦传动，避免了丝杆传动的间隙，灵敏度大大提高，亦可切换快速移动，提高工作效率。

l     

工 作 台	仪器型号	EVM-1510G	EVM-2010G	EVM-2515G	EVM-3020G	EVM-4030G
	金属台尺寸(mm)	354×228	404×228	450×280	500×330	606×466
	玻璃台尺寸(mm)	210×160	260×160	306×196	350×280	450×350
	运动行程(mm)	150×100	200×100	250×150	300×200	400×300
	仪器重量(kg)	100	110	120	140	240
	外型尺寸L*W*H	756×540×860		670×660×950		720×950×1020

•