Uniboc分析天平AUW-D系列半微量分析天平新一代质量传感器UniBlo®.(专利:在美国,1989年,NO.4799561;在中国,1991年,N.12729;在日本,1995NO.1905686）什么是UniBloc对岛津***开发的铝整体质量传感器OPF传感器进一步改进而成的全新质量传感器。UniBloc®是对一块铝合金进行精密放电加工而制成,使过去的传感器块整体化。将托盘天平的基本结构Roberval和双横梁(秤杆)组合在仅63cm³的块内。只有过去传感器体积的约1/10,零部件数为1/70。具有不使用螺丝和弹簧的均一构造使「响应性」和「温度特性」大幅提高,简单和小型化使「抗冲击性」提高。采用UniBloc®,即使长期使用也可实现高可靠性的质量测定。半微量分析天平AUW-D系列：***在AUW-D系列半微量天平中使用新一代传感器Unibloc全自动内校：PSC和CLOCK-CSL使用者可以使用两种全自动校准模式。“PSC”是根据当温度发生变化，天平会自动校准，而“ClockCAL”是在预定的时间，天平会自动校准。通过打印机，校准记录可以自动打印输出，时间日期可以打印输出，符合GLP/GMD/ISO要求；win直通视窗，测定数据可以直接输出到windows应用程序上，无需安装其他软件。)