电子产品低温试验标准GB/T2423.1-2008GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验A低温本部分代替GB／T2423．1—2001《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温》，与之相比，主要变化如下：———删除了试验Aa：非散热试验样品2009年6月17日GB/T2421.1电工电子产品环境试验第1部分:总则(GB/T2421.1—2008电工电子产品环境2010年6月18日2008年12月30日2001年7月12日GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温(应助).本帖被caballo3157执行锁定操作(2010-11-07)1981年8月10日2009年3月24日本试验不能用来考核仅由高温或低温所引起的影响，对这种影响，应使用高温或低温试验方法。)