
半导体I-V特性曲线仪失效分析
价格:888888.00
半导体I-V特性曲线仪电学测试对样品的电气性能进行测试,确认失效样品的失效模式,并提供相关数据,为后续的失效分析提供信息。测试项目:电阻、电容、电感等参数的测量测量I/V曲线Advanced***art-1AutoCurveTracerAgilentB1500SemiconductorDeviceAnalyzer)