品牌：日本泷川TAKIKAWA特点光源使用半导体镭射激光，寿命长使用高精度透镜，能够实现高线性因振动产生的测定误差非常小测定值不受外部光线（阳光等）影响能够测定玻璃、塑料等透明物体实现超小型、***能非接触、高速度、高精度的外径量测与控制大幅提升连续押出生产线品质及生产力双轴型--检出部测定方式非接触式激光扫描光源半导体镭射防护构造防尘构造使用环境温度0-45℃、湿度35-85%RH种类型号测量范围(mm)精度[μm]分辨率重量双轴型LDM-302H-XY0.05～5&plu***n;1μm&plu***n;0.1μm2kgLDM-303H-XY0.3～30&plu***n;2μm&plu***n;0.1μm2kgLDM-304H-XY0.5～90&plu***n;5μm&plu***n;1μm14kgLDM-305H-XY1～180&plu***n;10μm&plu***n;1μm50kgLDM-306H-XY2～300&plu***n;30μm&plu***n;1μm70kg技术参数--检出部测定方式非接触式激光扫描光源半导体镭射防护构造防尘构造使用环境温度0-45℃、湿度35-85%RH种类型号测量范围(mm)精度[μm]分辨率重量单轴标准型LDM-301H0.02～1&plu***n;1μm&plu***n;0.1μm1kgLDM-302H0.05～5&plu***n;1μm&plu***n;0.1μm1kgLDM-303H0.3～30&plu***n;2μm&plu***n;0.1μm1kgLDM-304H0.5～90&plu***n;5μm&plu***n;1μm2.9kgLDM-305H1～180&plu***n;10μm&plu***n;1μm15kgLDM-306H2～300[*2]&plu***n;30μm&plu***n;1μm34kg分离式--检出部测定方式非接触式激光扫描光源半导体镭射防护构造防尘构造使用环境温度0-45℃、湿度35-85%RH种类型号测量范围(mm)精度[μm]分辨率重量单轴分离型LDM-302H-SP0.05～5&plu***n;1μm&plu***n;0.1μm1kgLDM-303H-SP0.3～30&plu***n;2μm&plu***n;0.1μm0.9kgLDM-304H-SP0.5～90&plu***n;5μm&plu***n;1μm2.3kgLDM-305H-SP1～180&plu***n;10μm&plu***n;1μm11kgLDM-306H-SP2～300[*2]&plu***n;30μm&plu***n;1μm28kg)