微区扫描电化学工作站性能
微区扫描电化学工作站-扫描电化学显微镜是由Uniscan仪器开发的第四代扫描探针系统,具有更高规格和更多探针技术。扫描电化学显微系统(SECM)交流扫描电化学显微镜系统(ac-SECM)间歇接触扫描电化学显微镜系统(ic-SECM)微区电化学阻抗测试系统(LEIS)扫描振动点击测试系统(SVET)电解液微滴扫描系统(SDS)交流电解液微滴扫描系统(ac-SDS)扫描开尔文探针测试系统(SKP)非触式微区形貌测试系统(OSP)出色的性能快速精准的闭环***系统为电化学扫描探针纳米级研究的需求而特别设计。结合Uniscan独特的混合型32-bitDAC技术,用户可以选择合适实验研究的***佳配置***和灵活的工作平台系统可提供9种探针技术,使得M470成为******灵活的电化学扫描滩镇工作平台。***的附件7种模块可选,3种不同电解池,各式探针,长距显微镜以及后处理数据分析软件。微区扫描电化学工作站http:///st23184/ml)
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