型号：EDX1800BX荧光光谱仪卖点：1.天瑞ROHS检测仪一机多用2.天瑞ROHS仪器占市场率高3.天瑞ROHS测试仪可测固体，液体，粉墨4.天瑞仪器赠送电脑及打印机5.检测准确、快速、无损、直观工作原理硬件面板LED灯号显示测试进度，清楚了解测试状况多种语系(包含繁中/简中/英文/日文/韩文)支持的操作接口操作简易，仅需三步骤即可完成测试强大的输出功能，仅需一个按钮即可完成具备样品形状、厚度及材质自动补正功能标准配备***物质标准品与仪器硬件调校试片多功能应用，包含元素定性分析、电镀膜厚测定、合金成份与型号判定…等技术参数元素分析范围：硫（S）~铀（U）分析检出限：1ppm分析含量：ppm~99.99％任意多个可选择的分析和识别模型相互***的基体效应校正模型多变量非线性回归程序温度适应范围：15℃~30℃电源：交流220V&plu***n;5V，建议配置交流净化稳压电源能量分辨率：144&plu***n;5eV样品腔尺寸：439mm×300mm×50mm仪器尺寸：550mm×410mm×320mm仪器重量：45kgX射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非***式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。XRF用***或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会***出特征***；不同的元素会***出各自的特征***，具有不同的能量或波长特性。不同元素发出的特征X射线荧光能量和波长各不相同，因此通过对其的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。射线强度与相应元素在样品中的含量有关，因此通过测试其强度实现元素的定量分析。检测器(Detector)接受这些***，仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象广泛用于元素分析和化学分析，在某种程度上与原子吸收光谱仪实现互补。X射线荧光光谱（XRF）技术是一项可用于确定各类材料成分构成的分析技术，已经成熟运用多年。其应用方向包括金属合金、矿物、石化产品等等。X射线形成部分电磁波谱。其处于紫外线辐射的高能侧，使用千电子伏特表示能量高低，纳米表示波长。XRF一般可用于分析从钠到铀的所有元素，其可识别浓度范围***低至百万分级，高至百分比，可用于分析固体、液体和粉状物。所有XRF仪器都拥有两个主要成分，一个是X射线源，一般采用X射线管，另一个则是探头。X射线源会发出初级X射线到样品表面，有时会通过滤光器对X射线束进行调整。在光束击打样品原子时，会产生次级X射线，这些次级X射线会被探头收集并处理。)