电压击穿试验仪目前国内材料电压击穿试验仪采用的光耦隔离方式，但光耦与隔离无非是提高仪器的采集的抗干扰处理。对于电弧放电过程中的浪涌对控制系统的防护起不到任何作用。这也就是国产仪器维护率过高的主要原因。而华测***开发的TVS瞬间***防护技术，将起到对控制系统的***防护。多级循环电压采集技术：材料击穿后，瞬间放电速度约为光速的1/5～1/3,国际通用的方法为压降法进行采集击穿电压。即变压器的初级电压瞬间下降一定比率来判别材料是否击穿。显然记录击穿电压值产生偏差。而采用多级循环采集技术对击穿后的电压采集将解决此难题。低通滤波电流监测技术:高压压放电过程中将产生高频信号。而无论是国产与进口电流采集传感器，大都为工频电流传感器。而采集过程中无法将高频信号处理。从而造成检测不准确。同时无论是采用磁通门或霍尔原理都存在击穿后瞬间输出电压或电流信号过大，从而烧坏控制系统的采集部分（隔离只起到屏蔽）。华测开发的低滤波电流采集传感器将高频夹波信号处理后，传入PLC同时采用稳压技术而保证电流采集精度与保护采集元件。有关详情请见：http:///SonList-ml更多信息请见：http:///st154089/ml)