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caf测试caf检测报告离子迁移实验绝缘劣化试验耐caf性能测试绝缘阻力电阻试验
公司名称:深圳市赛特检测有限公司联系人:小吴联系电话:18925271837(微信同号)扣扣号:3492539620扣扣邮箱:3492539620@***.com公司地址:深圳市龙华区新湖路28号CAF测试印制线路板及其覆铜箔层压板耐离子迁移性能,是研究印制线路板及其履铜箔层压板在高温高湿的条件下,由于线路电压的作用,线路铜箔上的铜离子沿树脂和玻璃纤维表面(包括外表面和内层表面)迁移的过程。离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电(biasvoltage),经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生(ionmigration),并记录阻抗变化状况,故又叫做caf试验,绝缘阻力电阻试验,或者是open/short试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。检测项目CAF测试检测标准IPC-650-2.6.25、IPC9691A等样品要求需要与客户确认测试样品图形及接线数PCB板测试项目如下:可靠性检测:CAF测试、IST测试、表面绝缘电阻、离子清洁度测试、阴阳离子测试、吸湿(水)性、盐雾腐蚀、耐热油性、镀层孔隙率、耐振动、热冲击......电性能测试:耐电压、绝缘电阻、绝缘电阻及耐湿性、互连电阻、表面/体积电阻率、金属化孔电阻变化、介电常数和介质损耗因数......热性能测试:导热系数、热阻、热膨胀系数、玻璃化转变温度、热裂解温度Td、爆板时间T260/T288、阻燃性试验(塑料、PCB基板)......机械性能:外观检验、尺寸测量、侧蚀/凹蚀、翘曲度、弯曲强度、剥离强度、拉脱强度、粘合强度、铜箔延伸率、镀层附着力、高温高湿、SEM检查、温度循环、微观尺寸检测、孔金属镀层尺寸测量、***评估、铜箔厚度、切片分析......STT深圳市赛特检测严格按照CNAS认可委的要求建设实验室,并依据ISO/IEC17025:2006进行实验室管理,遵循“公正、科学、准确、***”的准则,依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等国际、国内标准,为企业提供***检测技术服务。深圳市赛特检测有限公司欢迎广大客户来电咨询业务.......)