EPTOSKOP2042涂层测厚仪简介：涂层测厚仪LEPTOSKOP2042具有精准的测量技术和简单的操作方法，是***的涂层测厚仪。通过***代码，可以使仪器在现场迅速的升级。可定制带系统的涂层测厚涂层测厚仪LEPTOSKOP2042利用磁感应法（DINENISO2178）测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法（DINENISO2360）测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合，同时提供10种可供任意选择的语言，以满足客户的各种需求。涂层测厚仪LEPTOSKOP2042是一种经济的产品，电池寿命长，可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可以被保存。彩色的橡胶皮套也是在供货范围内，可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。特点概述大图解屏幕48mmx24mm,有背景灯校准选项出厂时已校准，立即可用在未知涂层上校准*零校准*在无涂层的基体上一点和多点校准*在有涂层的基体上校准*校准数据可以别单独存储在***的校准档案中，也可以随时调出可选择的显示模式，以***佳形式去完成测量任务*输入和极限监视*在Windows下有简单的存储读数档案管理*可用的电脑软件STATWIN2002和EasyExport统计*可统计评估999个读数***小值、***大值、测量个数、标准偏差和极限监视局部厚度和平局膜层厚度（DINENISO2808）在线统计，所有统计值概括LEPTOSKOP2042带有45°微型探头*取决于配置级别3种配置级别以更好的完成测量人任务LEPTOSKOP2042有3种配置级别LEPTOSKOP2042基本型–证明质量的基本特征LEPTOSKOP2042***型-附加统计评估LEPTOSKOP2042***型-统计评估和数据存储多样的探头多样的外部探头使LEPTOSKOP2042在困难的条件下，更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是20mm也是可以的。根据需求，我们也可以订做特殊探头。探头类型测量方法测量范围订货号标准探头Fe0度br>用于在宽阔的、容易测量的地方Fe0-3000祄2442.100标准探头NFe0度/font>NFe0-1000祄2442.130标准探头NFeS0度/font>NFe0-3750祄2442.140标准探头FeS0度br>用于测量表面有宽阔的涂层厚度Fe0.5-20mm2442.120标准探头Fe90度br>用于测量难接近的部位，例如：管子的内部Fe0-3000祄2442.110双晶探头用于测量表面有宽阔的涂层例如：管子的内部涂层.Fe0.5-12.5mm2442.200微型探头0度用于测量小尺寸和难接近的部位例如：钻孔的底部FeNFe0-500祄2442.3002442.310微型探头45度用于测量小尺寸和难接近的部位FeNFe0-500祄2442.3202442.330微型探头90度用于测量小尺寸和难接近的部位例如：管子的内壁和钻孔FeNFe0-500祄2442.3402442.350技术资料数据传输接口RS232或USB电源：电池、充电电池、USB或外接电源测量范围:0-20000um(取决于探头)测量速度:每秒测量２个数值存储:***多9999个数值，140个文件误差:涂层厚度<100祄:1%的数值+/-1祄(校准后)涂层厚度>100祄:1..3%的数值+/-1祄涂层厚度>1000祄:3..5%的数值+/-10祄涂层厚度>10000祄:5%的数值+/-100祄附件试块和膜片探头***装置(适用于微型探头)***辅助装置(适用于微型探头)电脑软件STATWIN2002用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理电脑软件EasyExport用于把单独的杜说或全部文件传输到Windows程序里KD产品主要有裂纹测深、超声波测厚、超声波探伤、涂层测厚仪、磁粉探伤、磁粉耗材、剩磁检测、全自动超声/磁粉探伤设备，广泛应用在航空航天、汽车、机械、冶金、铸造、锻造、石油、化工等行业。泰亚赛福将秉承德国KD的宗旨，为您提供品质安全、可靠的无损检测产品。德国卡尔德意志（KARLDEUTSCH）检测仪器，设备有限公司是世界******的无损检测仪器设备***生产厂家之一。公司技术力量雄厚、技术***、具有几十年的开发、研制及生产无损检测仪器和成套设备的历史。其主要产品以性能***、可靠性强、自动化程度高、操作简便、易于维护等特点赢得了世界范围广大用户的交口称赞。)