BKTEM-Dx热电性能分析系统
BKTEM-Dx热电性能分析系统关键词:热电材料,Seebeck系数,电导率,电阻率,V-1装置产品介绍:BKTEM-Dx热电性能分析系统是我国热电材料的***设备,是***材料计划中***前沿装备,是我国科研人员几十年的精心参与和设计出来的热电材料测试仪,其测试性能远超越国内外热电材料测试仪,不仅可以用于块体材料同时也可以用于薄材料的测试,是目前国内高等院校和材料研究所的重要设备。对于热电材料的研究,热电性能测试是不可或缺的试验数据。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以***地测定半导体材料、金属材料及其他热电材料(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系数及电导率。主要原理和特点如下:该装置由高精度,高灵敏度温度可控的电阻炉和控制温度用的微型加热源构成。通过PID程序控温,采用四点法的方式***测定半导体材料及热电材料的Seebeck系数及电导率、电阻率。试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。一、适用范围:1、***地测定半导体材料、金属材料及其他热电(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康铜、镍、钨等金属,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系数及电导率、电阻率。3、块体和薄膜材料测均可以测试。4、试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。5、拥有自身专利分析软件,***分析,过程自动控制,界面友好。6、国内高等院校材料系研究或是热电材料生产单位。7、汽车和燃油、能源利用效率、替代能源领域、热电制冷.8、很多其他工业和研究领域-每年都会诞生新的应用领域。二、技术特点:·解决高温下温控精度不准的问题,静态法测量更加直观的了解产品热电材料的真正表征物理属性。温度检测可采用J、K型热电偶,降低测试成本。·试样采用独特的焊偶机构,保证接触电阻***小以及测量结果的高重现性。每次可测试1-3个样品.采用***数据采集技术,避免电路板数据采集技术带来的干扰误差,可控温场下同步测量赛贝克系数和电阻率。三:主要技术:测量温度:室温-600℃,800℃,1200℃可选同时测试样品数量:1个,2个,3个可选控温精度:0.5K(温度波动:≤&plu***n;0.1℃)测量原理:塞贝克系数:静态直流电;电阻系数:四端法测量范围:塞贝克系数:0.5μV/K_25V/K;电阻系数:0.2Ohm-2.5KOhm分辨率:塞贝克系数:10nV/K;电阻系数:10nOhm测量精度:塞贝克系数:<&plu***n;6%;电阻系数:<&plu***n;5%样品尺寸:块体方条形:2-3×2-3mm×10-23mm长,薄膜材料:≥50nm热电偶导距:≥6mm电流:0to160Ma气氛:0to160mA加热电极相数/电压:单相,220V,夹具接触热阻:≤0.05m2K/W)
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