如何推测连接器使用寿命连接器的使用寿命是衡量连接器性能可靠性的首要指标，随着人们对电子産品无故障工作性能的要求不断增强，连接器设计中提高使用寿命成爲一种设计导向。此外，市场竞争的加剧也要求设计人员在非昂贵合金中寻找适宜的材料以降低连接器的成本。在许多情况下，这些趋势的综合结果使得连接器的铜合金的工作特性更接近其性能极限。初始接触力是连接器设计和材料特性的一个重要因素。由于在接触件中，弹性变形会转换成塑性变形，故应力释放会导致接触力的减小。如果接触力低于某一临界水平，则接触件会出现功能失效。因此，预测作爲时间和温度相关函数的应力释放自然就成爲确保连接器可靠性的关键因素。下面浩隆电子就详细介绍应力释放测试预测连接器使用寿命的相关问题。应力释放数据是设计人员预测电子连接器使用寿命的一个有效工具，并使之可以根据现有数据对接触材料的选择作出决策。这些数据现已广泛应用于计算机、通信和汽车电子工业。而目前，有关産品的寿命周期的数据是非常缺乏的，尤其在计算机领域。不仅如此，它还是缩短産品开发周期和有效期的一个更爲有用的数据。大多数连接器设计人员采用应力释放数据主要是以此来根据应用要求缩小接触件材料的选择範围。不过，许多设计人员也正在寻求适当的试验方法以更准确地预测连接器使用寿命的特性。这样可以大大减少试验所需的样品数量以及测试衆多样品所带来的相关成本。目前，恶劣环境中和发动机罩内的***接器大多采用3级或1的设计技术要求;而下一代***接器的工作温度预计将提高到。只是大多数非汽车类连接器似乎不需要在以上的条件下保持其稳定性。不过，高密度连接器要求初始插合力较低，反过来，减小了应力释放量。这就使得应力释放即使在较低温度下也是重要的特性。与特定应用有关的试验数据所需的标准测定时间一般很难准确确定。在期望的使用温度下，测试时间在1000h和3000h之间即可用来评估汽车电子産品的特征数据。种种迹象表明，人们已越来越关注3000h以外即3000～5000h(相当于150000英里的使用寿命)的特征数据。试验数据的推算(没有考虑斜度的变化)可能会导致接触件寿命期的高估现象，并且随着时间的延长其高估量会相应增大。某一特定温度下数据的半对数图形表示法目前应用***爲广泛，其需要***爲迫切。这也是比较某一特定应用的各种材料***爲简易的方法。不过，需要强调的是，推算的数据应该仔细检查，并应注意出现***终寿命高估的可能性。在应力释放测试试验中得出了以下结论：(1)促使连接器的工作性能更趋于合金性能极限的因素可能还将会继续存在。这表明准确预测应力释放是连接器设计的关键所在。(2)当应力作爲测试时间的一个相关函数时，经常会发现斜度出现了变化。因此，测试时间应该适当长一些，以获取这一特性。(3)当测得的数据与温度存在一定的相关性时，存储器连接器PQ系列，将现有的数据线性推广到较长的测试时间是非常有用的。所存在的不足之外是：当试验时间超出规定时，有时会发生斜度转折，而且在其它温度下也无法预测其性能。(4)在单个图示中，绘制各种温度下的数据曲线时，拉森-米勒参数非常有用。这一方法对于预测材料在已完成的和预计进行的短期试验的两温度之间的性能，并以此模拟材料的长期性能时也是极爲有用的。但是，如果超出该测试温度範围，则不能用它来推算。(5)可以将两种方法结合起来，以此来对推算值进行复检。(6)铜带的轧制可以模拟连接器的制造，其作用与C7025和C17410性能相反。(7)由带材所获数据存在一定的局限性，由于打弯是在连接器制造过程中完成的，所以它没有反映出任何影响。如何解决连接器的电磁干扰EMI并预防?当今，电子系统的时钟频率为几百兆赫，所用脉冲的前后沿在亚纳秒范围。网络接口传输数据速率为100Mbit/s和155与622Mbit/s(ATM-异步传输模)。高质量视频电路也用以亚纳秒级的象素速率。这些较高的处理速度表示了工程上受到不断的挑战。这样的挑战之一是射频(RF)干扰，这是由于电磁能量的快速变化引起的。电路上振荡速率变得更快(上升/下降时间)，电压/电流幅度变得更大，问题变得更多。因此，今天同以前相比，解决电磁兼容性(EMC)就更艰难了。在电路的两个波节之前，快速变化的脉冲电流，表示了所谓差模噪声源，电路周围的电磁场可以耦合到其它元件上和***连接部分。经***或容性耦合的噪声是共模干扰。射频干扰电流是彼此相同的，系统可以建模为：由噪声源、“受害电路”或“接受者”和回路(通常是底板)组成。用几个因素来描述干扰的大小：噪声源的强度、干扰电流环绕面积的大小、变化速率。于是，尽管在电路中有很可能产生不希望的干扰，噪声几乎总是共模型的。一旦在输入/输出(I/O)连接器和机壳或地平面之间接入电缆，有某些RF电压出现时，导致几毫安的RF电流就能足以超过允许的发射电平。噪声的耦合和传播共模噪声是由于不合理的设计产生的。有些典型的原因是不同线对中个别导线的长度不同，或到电源平面或机壳的距离不同。另一个原因是元件的缺陷，如磁感应线圈与变压器，电容器与有源器件(例如应用特殊的集成电路(ASIC))。磁性元件，特别是所谓“铁芯扼流圈”型贮能电感器，是用在电源变换器之中的，总是产生电磁场。磁路中的气隙相当于串联电路中的一个大电阻，那儿要消耗较多的电能。于是，铁芯扼流圈，绕制在铁氧体棒上，在棒周围产生强的电磁场，在电极附近有***强的场强。在使用回描结构的开关电源中，变压器上必定有一个空隙，其间有很强的磁场。在其中保持磁场的元件是螺旋管，使电磁场沿管芯长度方向分布。这就是在高频工作的磁性元件优选螺旋结构的原因之一。不恰当的去耦电路通常也变成干扰源。如果电路要求大的脉冲电流，以及局部去耦时不能保证小电容或十分高的内阻需要，则由电源回路产生的电压就下降。这相当于纹波，或者相当于终端间的电压快速变化。由于封装的杂散电容，干扰能耦合到其它电路中去，引起共模问题。当共模电流污染I/O接口电路时，该问题必须解决在通过连接器之前。不同的应用，建议用不同的方法来解决这个问题。在视频电路中，那儿I/O信号是单端的，且公用同一共同回路，要解决它，用小型LC滤波器滤掉噪声。在低频串联接口网络中，有些杂散电容就足够将噪声分流到底板上。差分驱动的接口，东城PQ系列，如以太，通常是通过变压器耦合到I/O区域，是在变压器一侧或两侧的中心抽头提供耦合的。这些中心抽头经高压电容器与底板相连，将共模噪声分流到底板上，以使信号不发生失真。在I/O区域内的共模噪声没有一个通用办法来解决所有类型的I/O接口的问题。设计师们的主要目标是将电路设计好，***接器PQ系列，而常常忽略了一些视为简单的细节。一些基本法则能使噪声在到达连接器以前，降至：1)将去耦电容设置在紧挨负载处。2)快速变化的前后沿的脉冲电流，其环路尺寸应。3)使大电流器件(即驱动器和ASIC)远离I/O端口。4)测定信号的完整性，以保证过冲和下冲，特别是对于大电流的关键性信号(如时钟，总线)。5)使用局部滤波，如RF铁氧体，可吸收RF干扰。6)提供低阻抗搭接到底板上或在I/O区域的基准在底板上。射频噪声和连接器即使工程师采取许多上述所列的预防措施，网络连接器PQ系列，来减小在I/O区内的RF噪声，还不能保证这些预防措施能否成功地足够满足发射要求。有些噪声是传导干扰，即在内部电路板上按共模电流流动。这个干扰源是在底板和电路等之间。于是，这个RF电流一定通过阻抗(在底板和载信号线之间)的通路流动。如果连接器没呈现足够低的阻抗(与底板的搭接处)，这RF电流经杂散电容流动。当这RF电流流过电缆时，不可避免地产射。使共模电流注入到I/O区的另一机理，是附近有强的干扰源的耦合。甚至有些“屏蔽”连接器也无用，因为干扰源就在连接器附近，如PC机环境。如果在连接器和底板之间有一个缺口，此处所感应的RF电压可以使EMC性能下降。屏蔽连接器方法有，加指形或垫片。连接器的搭接，是在连接器和机壳之间填满空处。这个方法要求有一个衬垫。金属衬垫较好，只要处理合适，也就是说，只要表面不被污染，只要手不触及或损坏衬垫以及只要有足够的压力，以保持好的、低阻抗的接触。别的方法是连接器装接头片或者把连接器安装在机壳上。此时，接触面稍微小些，且应严格控制接头片的尺寸和弹性。安装屏蔽连接器时，在机壳上开口，开口的一侧要去掉油污，要仔细制作，若公差不合适，导致连接器在机壳内陷入太深，使搭接中断。每位EMC工程师知道，在“***”的系统当中，这个问题一定要满足发射要求，并在生产线及时检查。未紧固的或弯曲的衬垫，安装于关键区域的油污上，将失效。东城PQ系列,欧米格科技,***接器PQ系列由深圳欧米格科技有限公司提供。深圳欧米格科技有限公司（）是***从事“连接器,HRS线对线连接器,HRS线对板连接器”的企业，公司秉承“诚信经营，用心服务”的理念，为您提供优质的产品和服务。欢迎来电咨询！联系人：刘先生。)