镀层膜厚测量仪http:///st332859/ml日立X射线荧光镀层膜厚测量仪基本参数：型号：FT150（标准型）FT150h（高能量型）FT150L（大型线路板对应）测量元素：原子序数13（Al）～92（U）X射线源：管电压：45kVFT150：Mo靶FT150h：W靶FT150L：Mo靶检测器：Si半导体检测器（SDD）（无需液氮）X射线聚光：聚光导管方式样品观察：CCD摄像头（100万像素）对焦：激光对焦、自动对焦***大样品尺寸：FT150:400(W)×300(D)×100(H)mmFT150h:400(W)×300(D)×100(H)mmFT150L:600(W)×600(D)×20(H)mm工作台行程：FT150:400(W)×300(D)FT150h:mm400(W)×300(D)FT150L:mm300(W)×300(D)mm操作系统：电脑、22英寸液晶显示屏测量软件：薄膜FP法（***多5层膜、10元素）、检量线法、定性分析数据处理：MicrosoftExcel、MicrosoftWord安装安全功能：样品门联锁消耗电量：300VA以下)