用途与特点CST-50冲击试样缺口夏比投影仪是专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。本冲击试样缺口投影仪是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口标准样板图比对，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，操作简便，检查对比直观、效率高，是目前***切实可行、并能保证检查质量的方法，是相关理化试验室的必备仪器。主要技术参数1.放大倍数：50×；2.投影屏尺寸：ф200mm;3.工作台位移：纵向&plu***n;10mm，横向&plu***n;10mm，升降&plu***n;12mm(无刻度)；4.工作台转动范围：0～360о（无刻度）；5.光源：卤钨灯12V100W;6.电源：200V50HZ150W;7.外形尺寸：515×224×603mm;8.重量：约18kg。)