产品介绍2011年新推出了SU9000超高分辨冷场发射扫描电镜，达到扫描电镜世界***高二次电子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。日立SU9000采取了全新改进的真空系统和电子光学系统，不仅分辨率性能明显提升，而且作为一款冷场发射扫描电镜甚至不需要传统意义上的Flashing操作，可以***率的快速获取样品超高分辨扫描电镜图像。特点：1.新型电子光学系统设计达到扫描电镜世界***高分辨率：二次电子0.4nm（30KV），STEM0.34nm（30KV）。2.Hitachi专利设计的E×B系统，可以自由控制SE和BSE检测信号。3.全新真空技术设计使得SU9000冷场发射电子束具有超稳定和高亮度特点。4.全新物镜设计显著提高低加速电压条件下的图像分辨率。5.STEM的明场像能够调整信号检测角度，明场像、暗场像和二次电子图像可以同时显示并拍摄照片。6.与FIB兼容的侧插样品杆提高更换样品效率和高倍率图像观察效率。详细资料项目技术指标二次电子分辨率0.4nm（加速电压30kV，放大倍率80万倍）1.2nm（加速电压1kV，放大倍率25万倍）STEM分辨率0.34nm（加速电压30kV，晶格象）观测倍率底片输出显示器输出LM模式80~10,000x220~25,000xHM模式800~3,000,000x2,200~8,000,000x样品台侧插式样品杆样品移动行程X&plu***n;4.0mmY&plu***n;2.0mmZ&plu***n;0.3mmT&plu***n;40度标准样品台平面样品台：5.0mm×9.5mm×3.5mmH截面样品台：2.0mm×6.0mm×5.0mmH专用样品台截面样品台：2.0mm×12.0mm×6.0mmH双倾截面样品台：0.8mm×8.5mm×3.5mmH信号检测器二次电子探测器TOP探测器（选配）BF/DF双STEM探测器（选配）)