DIATEST电子塞规,10-1系列通孔塞规式测量仪,数显塞规,带表塞规
10-1系列通孔塞规式测量仪属于比对法测量,可快速***测量孔内几何形状,自定中心,应用范围广,操作简单精度高,结构牢固长寿命,不会划伤工件DIATEST塞规式测量系统特有的导向体设计,保证了测量结果的可能性,解决了孔径测量的对中难题,***大限度减少了人为因素测量结果的影响,可方便、快速、准确得出测量结果。测头为非标定制,按图纸及使用要求加工制作!测头结构测头参数1、手柄测头形式:通孔2、显示装置测量范围:+0.2mm3、测针重复精度:0.001mm4、导向体线性误差:1%测量行程5、两瓣体测点半径:2.5-10mm6、测点测头寿命:可达100万次)
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