高精度晶振综合测试仪GDS-80
“高精度晶振综合测试仪GDS-80”参数说明是否有现货:是认证:第三方品牌:智慧源加工定制:是测量范围:20KHz-100MHz晶振测量精度:优于0.5ppm产品用途:测试晶振ppm、阻抗等参数型号:GDS-80规格:数字式商标:智慧源包装:软装产地:深圳保修:三年产量:5000“高精度晶振综合测试仪GDS-80”详细介绍基本介绍高精度晶振综合测试仪GDS-80是高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现智能化测量,符合IEC-444标准。高精度晶振综合测试仪GDS-80测量频率范围20KHz-100MHz,附RS-232接口进行数据通信。高精度晶振综合测试仪GDS-80特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业生产和科研使用。高精度晶振综合测试仪GDS-80采用π型网络零相位法实现等精度测量。高精度晶振综合测试仪GDS-80测量精度高,速度快;具有串联谐振频率、负载谐振频率、串联谐振电阻、负载谐振电阻、PPM值、静电容等参数测量,可保存5个不同晶振频率和负载电容参数,负载电容在2-20P范围内任意编程设置,从满足不同负载电容的晶振测试,智能运算克服了市场上晶体阻抗计阻抗数值显示不明显的缺点、解除了手工校对的麻烦,让晶振测试变得更轻松。性能特点1.阻抗值、ppm同时显示2.无需人工校对,直接测试多种参数3.新技术,符合IEC-444标准,满足国人需求,可替代进口设备4.LCD显示PPm超标提示功能技术参数3.1测量范围:3.1.1频率测量范围:0.1Hz~100MHz3.1.2周期测量范围:10ns~10s3.1.3计数容量:11083.1.4ppm:1ppm3.2动态范围:50mV~1.5Vms3.3输入耦合方式:AC3.4闸门时间:0.01s、0.1s、1s(可设定)3.5准确度:时基准确度触发误差被测频率(周期)LSO其中LSO=(100ns/闸门时间)被测频率(被测周期)3.6时基:3.6.1标称频率:10MHz3.6.2频率稳定度:5107/d3.7显示:九位LED数码管显示3.8电源:220V22V50Hz2.5Hz3.9整机功耗:10VA3.10可靠性:平均无故障工作时间MTBF10000h使用说明高精度晶振综合测试仪GDS-80采用π型网络零相位法实现等精度测量。它测量精度高,速度快;具有串联谐振频率、负载谐振频率、串联谐振电阻、负载谐振电阻、PPM值、静电容等参数测量,可保存5个不同晶振频率和负载电容参数,负载电容在2-20P范围内任意编程设置,从满足不同负载电容的晶振测试,智能运算克服了市场上晶体阻抗计阻抗数值显示不明显的缺点、解除了手工校对的麻烦,让晶振测试变得更轻松。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业生产和科研使用。采购须知此产品支持网上订购,价格不含税不含运费,承诺质量保证并支持十五天内包退换,下单即可备货发货。请告知我们待测产品,以方便我们为您正确选型。如有特殊要求时请在订购产品时注明。若已由设计单位选定的型号,请按型号直接向我司销售部订购。当使用的场合非常重要或环境比较复杂时,请您尽量提供设计图。如有任何疑问,请随时致电我们,我们一定会尽心尽力为您提供优质的服务。)
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