二氧化硅成分分析
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高纯材料成分分析,高纯铝成分分析,锡条成分分析,二氧化硅成分分析,锌块杂质元素分析天津容大检测有限公司联系人:王景府手机:13102238283***:3144667033电话:022-23892103项目简介高纯材料的分析通常通过辉光放电来进行检测,非常适合于导体(和/或)非导体复合镀层的分析。灵敏性非常高,可分析70多种元素。在金属分析领域中,辉光放电分析是浓度分析和表面分析***理想的手段。表面处理工艺过程,如表面渗碳硬化或渗碳热处理等,都可以通过分析被处理材料的表面和近表层区域实现质量控制。采用浓度分布分析功能可以***地测量涂(镀)层厚度及化学成分。检测目的:鉴定高纯度材料的成分含量检测范围:各种金属,高纯材料检测材料一、***金(3N,4N,4N5)、银(3N,3N5,4N)、铂(3N,3N5,4N)、钯(3N,3N5,4N)、铑(3N,3N5,4N)铱3N,3N5,4N)、钌(3N,3N5)二、有色金属钨条(3N,4N)、钽粉、铌条、铟(3N,4N)、钼条、***(3N,4N,5N,6N)三、其他高纯物质石墨、碳、硅、碳化硅、陶瓷、锗、三氧化二铝、高纯二氧化锗锗(5N,6N)高纯四氯化锗(5N,6N)检测方法除去标准中指定方法外,我们还可用GDMS来对高纯物质进行成分分析GDMS-辉光放电质谱仪检测面积:40-200平方毫米(消耗50微米厚度的样品)检测极限:ppb级别检测范围:73种元素粉末制样:高纯铟)
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