试验咨询：李绍政13808840060；020-66837067邮箱：lisz@CNAS资质试验室分布：广州、武汉、无锡、北京、成都GJB548A-96微电子器件试验方法和程序本标准规定了微电子器件统一的试验方法，控制和程序；包括为确定对空间应用的自然因素和条件的抗损坏能力而进行的基本环境试验，物理和电试验，设计封装和材料的限制，标准的一半要求，工作质量和人员培训程序，以及为保证这些器件满足预定用途的质量与可靠性水平而必需采取的其他控制和限制。本标准适用于微电子器件。本标准所规定的微电子器件的环境试验，物理试验及电试验方法，在适当时，也适用于已批准的规范所未包括的微电子器件。为保证按本标准筛选的相同等级的所有器件具有一致的质量和可靠性性，提供了相同水平的物理试验，电试验和环境实验，生产控制，工作质量以及各种材料。微电子器件包含的试验有：低气压试验，浸液试验，绝缘电阻，耐湿热试验，稳态寿命试验，模拟寿命试验，盐雾腐蚀试验，温度循环试验，热冲击试验，密封试验等。振动试验标准电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fc和导则：振动（正弦）GB/T2423.10-2008/IEC60068-2-6:1995电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fh：宽带随机振动（数字控制）和导则GB/T2423.56-2006/IEC60068-2-64:1993电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fi:振动混合模式GB/T2423.58-2008/IEC60068-2-80:2005包装运输包装件基本试验第2部分：温湿度调节处理GB/T4857.2－2005/ISO2233:2000汽车电气设备基本技术条件QC/T413-2002计算机通用规范GJB322A-1998通信设备通用规范GJB367A－2001电子测试设备通用规范GJB3947A-2009轨道交通机车车辆电子装置GB/T25119-2010/IEC60571：2006电子测量仪器通用规范GB/T6587-2012微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005电子及电气元件试验方法GJB360B-2009装备实验室环境试验方法第16部分：振动试验》GJB150.16A-2009电子产品环境应力筛选方法GJB1032-1990舰船电子设备环境试验振动试验GJB4.7-1983铁路地面信号产品振动试验方法TB/T2846－1997包装运输包装件基本试验第23部分:随机振动试验方法GB/T4857.23-2012轨道交通机车车辆设备冲击和振动试验GB/T21563-2008/IE61373：1999机械冲击试验标准电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ea和导则:冲击GB/T2423.5-1995/IEC60068-2-27:1987装备实验室环境试验方法第18部分：冲击试验GJB150.18A-2009通信设备通用规范GJB367A－2001计算机通用规范GJB322A-1998电子测试设备通用规范GJB3947A-2009电子测量仪器通用规范GB/T6587-2012微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005电子及电气元件试验方法GJB360B-2009轨道交通机车车辆电子装置GB/T25119-2010/IEC60571：2006舰船电子设备环境试验冲击试验GJB4.9-1983轨道交通机车车辆设备冲击和振动试验GB/T21563-2008/IEC61373：1999)