CMI900牛津镀层测厚仪的详细资料：牛津镀层测厚仪利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。牛津镀层测厚仪是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及***分析行业表现出***的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。牛津镀层测厚仪提供：无损分析：无需样品制备经行业认证的技术和可靠性操作简单，只需要简单的培训分析只需三步骤杰出的分析准确性在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验镀层测厚仪X-Strata系列使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本。更多：牛津镀层测厚仪http:///SonList-mlhttp:///st318610/erlist_ml)