系统概述该系统是一套动态综合测试系统、测试参数多、精度高、具有过流、过热、水压不足等保护功能。具有连续工作的特点，测试程序由计算机控制，程序设定完成后可自动测试，系统采用内控和外控两种方式。便于工作人员操作。测试方法符合GB/T29332-2012/IEC60747-9:200及GB4023-83等相关标准。采用计算机记录测试结果，并转化为EXCEL文件进行处理。技术指标：加热电流直流50-500A显示精度0.1A&plu***n;3%加热时间20-60s，冷却时间：20-60s散热要求1分钟内完成器件加热到结温降温到40℃的一个循环热敏测试单元热敏电流50mA-999mA分辨率0.1mA精度&plu***n;3%1A-10A分辨率0.1A精度0.1A&plu***n;3%热敏电压1V-10V分辨率1mV精度&plu***n;2%热阻单元功率计算饱和压降0.3-5V分辨率0.01V精度&plu***n;2%导通电流分辨率0.1A精度&plu***n;3%温度采集温度采集单元分辨率0.1℃精度&plu***n;0.1℃热阻测试器件数量为1只。Vce/Ic/热敏电压/壳温各采一路循环次数1-20000次按时间控制显示每只器件的壳温，采集壳温的位置依据被侧器件的相应标准规定按结温控制显示一只器件的结温，6只器件壳温被测器件6只（二单元串联结构）或1只6单元IGBT桥模块，IGBT桥模块按三组循环加热、占空比30%的工作方式进行设计和试验数据显示计算机显示壳温、试验电流、试验次数、记录结果，并可转为EXCEL文件脱机显示脱机状态，面板显示6个工位的壳温，试验电流/次数、加热/冷却时间水路水路的回水采用开放式输出，冷却水路由甲方提供电源采用全波整流的直流电源，电流大小通过调压器手动调节。被测器件为二单元串联结构时，采用6只器件串联试验；被测器件为六单元全桥模块时，负载为一只模块。电源共一组，输出电流50-500A测试参数可测试器件稳态热阻Rth（J-C)散热设备采用水冷散热测试系统指标1.测试电压：≤2KV2.测试电流：≤50A3.电压分辨率：1mV4.电流分辨率：0.1nA5.测试精度：0.2%&plu***n;2LSB1.3测试范围1．双向可控硅（TRIAC）2．MOS场效应管（PowerMOSFET）3．绝缘栅双极大功率晶体管（IGBT）4．结型场效应管（J-FET）5．晶体管（Transistor）6．达林顿阵列(Darliknton)7．稳压（齐纳）二极管（Zener）8．二极管(Diode)9．可控硅整流器（SCR）10．三端稳压器（REGULATOR）11．光电耦合器（OPTO-COUPLER）12．双向触发二极管（DIAC)13．固态过压保护器（SOVP）14．继电器（RELAY）IGBT动静态参数测试系统厂家大功率IGBT动态参数测试系统轨道机车检修专用IGBT参数测试仪逆变器IGBT动静态参数测试分析仪变流器IGBT参数测试仪新能源IGBT动静态参数分析仪MOS场效应管测试仪研发厂家西安谊邦直供MOS管测试仪大功率MOS管测量仪电源MOS测试专用仪器新能源汽车MOS测试专用仪表厂家直供可控硅测试仪大功率可控硅参数测量分析仪)