X荧光测厚仪（膜厚仪）技术指标型号：Thick800A元素分析范围从硫（S）到铀（U）。一次可同时分析***多24个元素，五层镀层。分析检出限可达2ppm，***薄可测试0.005μm。分析含量一般为2ppm到99.9%。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）任意多个可选择的分析和识别模型。相互***的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序多次测量重复性可达0.1%长期工作稳定性可达0.1%度适应范围为15℃至30℃。电源:交流220V&plu***n;5V,建议配置交流净化稳压电源。仪器尺寸：534（W）x480（D）x525（H）mm重量：80kGx荧光测厚仪（膜厚仪）性能特点满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可******测试点，重复***精度小于0.005mm采用高度***激光，可自动***测试高度***激光确定***光斑，确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加精准良好的射线屏蔽作用测试口高度敏***传感器保护其他相关产品：二氧化碳变送器http:///?c=show&catid=207二氧化碳手持表http:///?c=show&catid=209暖通空调自控系统http:///?c=show&m=view&id=101)