TXRF全反射X射线荧光光谱仪
主要技术特点可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析,元素范围13Al-92U,含量范围ppb至100%,检出限到2pg。需要样品量少,液体及悬浮物样品1-50微升,粉末样品10微克以内。图2.4S2PICOFOX独特的便携式全反射荧光仪,设备小巧,一体化结构设计,不需要任何辅助设备及气体、液氮等,可拿到现场进行分析。1位及25位全自动进样器两款设计,分别适用于每天有少量样品及大批量样品的全自动分析。第四代XFlash®SDD硅漂移探测器,采用帕尔贴冷却技术,不需要液氮,没有任何消耗。分辨率优于160eVatMnKa100Kcps。由于全反射无背景,荧光强度与元素含量直接成正比。标准曲线工厂已校准好,用户不需要标样就可以进行定量分析。应用:水、废水、土壤中的污染元素;血液、尿液、***中的***元素;食品、医药、刑侦、环保、陶瓷、水泥、建材、地质等领域。)
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