圳两箱式冷热冲击试验箱广泛用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的组件，可作为其产品改进的依据或参考。两箱式冷热冲击试验箱技术参数高温槽温度范围+60~200℃.低温槽温度范围A：(-55～-10℃).B：(-65～-10℃).D：(-80～-10℃).实验箱冲击温度高温+60～150℃低温A：(-10～-40℃)B：(-10～-55℃)D：(-10～-65℃)升温时间60~200℃小于35分降温时间A：+20～-55℃小于75分B：+20～-65℃小于80分D：+20～-75℃小于90分.冲击***时间高温(150℃)冲击30分钟.低温(-40℃or-55℃or-65℃)冲击30分钟.冲击***时间：5分钟以内.风门开启时间3秒以内资料来源:更多详情:/st66106相关产品：,管道阻火器,,母线槽,,德国REXROTH电磁阀)