原子力显微镜硅片表面形貌测量
价格电议英国NanoMagnetics原子力显微镜硅片表面形貌测量上海伯东代理的英国NanoMagnetics原子力显微镜硅片表面形貌测量应用,某高校老师通过原子力显微镜进行硅片表面形貌测量和表面粗糙度测量,便于后续进行拉曼增强.测试方法:选用上海伯东英国NanoMagnetics原子力显微镜ezAFM进行测试.将样品放置在样品台,通过系统软件自动控制.原子力显微镜测试条件图像参数品牌英国NanoMagnetics原子力显微镜型号ezAFM模式动态模式分辨率(pixels)512x512悬臂类型***AfromAppNanoSetRMS1.0VRMSFreeRMS2.0VRMS原子力显微镜ezAFM性能扫描范围120x120x40μm或40x40x4μm模式接触模式,动态力/相位成像模式,侧向力显微镜LFM和磁力显微镜MFM模式噪声基底65fm√Hz分辨率2μm集成光学显微镜全高清摄像机390x230μm,2516x1960,pixels,30fps,样品尺寸10x10x5mm(可配置为不限制样品尺寸)硅片表面形貌成像图硅片表面粗糙度成像图英国NanoMagnetics仪器1998年在牛津成立,作为原子力显微镜AFM制造商,主营环境扫描探针显微镜SPM,低温扫描探针显微镜LT-SPM,霍尔效应测量系统等,原子力显微镜适用于产品表面特征分析,生命科学,原位成像,材料科学,薄膜等领域.广泛应用于牛津大学,斯坦福,京都大学,NASA等学府和科研院所.上海伯东是代理商)
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