LDJD-B型介质损耗因数测试仪在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。适用标准GB/T1409-2006《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法》（等效IEC60250：1969）GB/T1693-2007《硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法》ASTMD150《StandardTestMethodsforACLossCharacteristicsandPermittivity(DielectricC***tant)ofSolidElectricalInsulation》LDJD-B型介质损耗因数测试仪主要参数：*1.信号源:DDS数字合成信号10kHZ-70MHZ*2.信号源频率精度3×10-5&plu***n;1个字,6位有效数3．Q值测量范围：1～10234．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；*5．电感测量范围：1nH～8.4H自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能*6．电容直接测量范围：1pF～2.5uF*7．主电容调节范围：30～540pF8.准确度150pF以下&plu***n;1pF；150pF以上&plu***n;1%9．信号源频率覆盖范围10kHz～70MHz10．合格指示预置功能范围：5～100011．环境温度：0℃～+40℃；12．消耗功率：约25W；电源：220V&plu***n;22V，50Hz&plu***n;2.5Hz。13.S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：http:///st397761/mlhttp:///SonList-ml)