EDX-J180电镀层膜厚测试仪,XRF镀层测量仪的详细资料：选择电镀层膜厚测试仪,XRF电镀层膜厚测试仪,电镀层膜厚测试仪供应详情的四个理由：1、无损检测镀层工艺的高要求，让楔切法、光截法等传统的***性检测方法越来越不适用，市场上迫切需要一种快速、准确、无损的检测方法，而X射线荧光光谱法无非是***佳的镀层无损检测方法。2、强化品质管控X荧光光谱镀层检测仪可以准确检测镀层的金属含量及厚度等数据，这是做好电镀品质管控的前提。3、提升生产力传统的检测技术，既耗时又耗人力，而X荧光光谱镀层检测仪可以很大程度上解放劳动力，且检测速度快、精度高，这对提高电镀企业生产力、节约成本有很大帮助，从而带来更多的经济效益。4、提升市场竞争力X荧光光谱镀层检测仪不但可以帮助电镀企业提升劳动生产力，也可以帮助电镀企业在行业里保持***的竞争优势。仪器推荐：电镀层膜厚测试仪,XRF电镀层膜厚测试仪,电镀层膜厚测试仪供应详情EDX-J180镀层检测仪EDX-J180是捷特精密根据多年的镀层检测技术和经验，自主研发生产的X射线荧光光谱检测仪之一。它配备了美国进口的Si-PIN探测器，并集成探测器供电控制系统等十多项自主研发专利产品，符合镀层检测标准GB/T16921-2005。电镀层膜厚测试仪,XRF电镀层膜厚测试仪,电镀层膜厚测试仪供应详情性能特点无损：无损检测，不需要任何耗材精准：美国进口Si-PIN探测器，对所有元素均能精准检测简便：操作简易，无需***测试人员，无需严格的测试条件快速：3秒内可对样品定性识别，60秒内可得出测试结果直观：高清晰图形即时显示，检测结果直观明了安全：加装防辐射装置，主动保护操作人员安全电镀层膜厚测试仪,XRF电镀层膜厚测试仪,电镀层膜厚测试仪供应详情技术参数设备原理：X荧光能量色散元素分析：从Na～U的所有元素检出限：100ppm（***佳基体效应）测量精度：&plu***n;10PPM～0.1%扩展不确定度：≤0.19%镀层测量：镀层厚度范围<30umX射线源：Mo靶的X射线光管风冷（无辐射）探测器：Si-PIN探测器(美国进口)分辨率：145Kev&plu***n;5摄像头：高清晰摄像***系统软件：菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算高压器：0～50Kv(进口)温度：-11～46℃电压：100～127V或220～240V，50/60Hz***大功率：144W主体结构：高强度金属支架工程塑料外壳重量：32公斤尺寸：650*450*350mm标准配置主动式射线保护高压过压保护光管过热保护全局故障诊断升***预启动扩展线材及辅助支架更多内容详情：邻苯二甲酸盐(6P)检测仪http://www.jt-/jietejingmiyiqi-SonList-1200815/)