半导体检测显微镜通过各种观察方法--明视场法、暗视场法、微分干涉法(DIC)、荧光法、红外线法和深紫外线法，保证了***的图像分辨率和鲜明度。MX61半导体检测显微镜通过各种观察方法--明视场法、暗视场法、微分干涉法(DIC)、荧光法、红外线法和深紫外线法，保证了***的图像分辨率和鲜明度。半导体检测显微镜考虑了检查效率的设计鲜明图像和***的分辨率为特点的光学系半导体检测显微镜软件方案支持缺陷检测的多种功能帮助实现多种观察的附件考虑了检查效率的设计主要操作集中配置在前面板上半导体检测显微镜前面板[1]照明强度旋钮[2]物镜倍率切换[3]孔径光阑调节在对比度的决定上起重要作用的孔径光阑(AS)的开闭调节，与物镜的切换和观察模式连动，用一个按钮就可以操作。此外，用一个手指就可以调光的旋钮也配置在前面板上，从而提高了检查速度。物镜和孔径光阑(AS)的按钮分别斜向配置，手不离开对焦手柄，只要轻动大拇指就可以操作。这个按钮的倾斜式设计提高了手指尖的感知度，能够防止错误操作。观察姿势迅速到位的倾斜镜筒为了适应视点而调整座椅的高度，或是以不合理的姿势进行检查的话会浪费时间，降低工作速度。但是，配备倾斜角度为0°～42°(可变高度为150mm，SEMIS8对应)的倾斜镜筒，可采取与检查者体格无关的舒适观察姿势，甚至可以站立检查。此外，这一款镜筒拉长了从观察中心轴到观察者视点的距离，可以在较大的平台上轻松操作。高灵敏度载物台可以迅速决***置半导体检测显微镜资料出处http:///recotech-SonList-472576/推荐产品：超景深数码显微镜http:///st180687)