双束电子显微镜 Nvision 40
CrossBeam工作模式:蚀刻、抛光过程中的高分辨率实时成像采用GEMINI镜筒实现高分辨率成像超高精度的聚集离子束(FIB)自动化的透射电子显微镜(TEM)样品制备软件包采用镜筒内置式EsB探测器,获得更好的组分像技术参数:技术参数:分辨率:电子光学FIB1.1nm@20kvNEON:7nm@30kv2.5nm@1kvNVision40:4nm@30kv加速电压:0.1-30kvNEON:2-30kvNVision40:5-30kv1-5kv(opt.)束流:NEON:12-900kxNEON:1pA-50nANVision40:4pA-20nANVision40:0.1pA-45nA放大倍数:NEON:4pA-10nANEON:600x-500kxNVision40:30x-900kxNVision40:475x-500kx发射源:热场发射Ga液态金属离子源(GaLMIS)标配探测器:In-lens二次电子探测器与样品室内ET探测器图像处理模式:7种积分平均模式操作界面:基体WindowsXP的***artSEM)
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