ENJ2005-B半导体分立器件测试系统系列系统概述：设备扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键，系统可以脱离主控计算机***完成多种工作。系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。系统特征：●测试范围广（19大类，27分类）●升级扩展性强，通过选件可提高电压电流，和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A●采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定的300uS●被测器件引腿接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试，确保被测器件不受损坏●真正的动态跨导测试。（主流的直流方法测动态跨导，其结果与器件实际值偏差很大）●系统故障在线判断修复能力，便于应急处理排除故障●二极管极性自动判别功能，无需人工操作测试参数：漏电参数：IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)击穿参数：BVCEOBVCES(300μSPulseabove10mA)BVDSS、VD、BVCBO、VDRM、VRRM、VBB、BVR、VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、BVGKO增益参数：hFE、CTR、gFS、导通参数：VCESAT、VBESAT、VBEON、VF、VT、VT+、VT-、VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VGETH、VTM、VSD、IDON、VSAT、IDON、Notch=IGT1，IGT4、ICON、VGEON、VO(Regulator)、IIN(Regulator)混合参数：***ON、gFS、InputRegulation、OutputRegulation关断参数：VGSOFF触发参数：IGT、VGT保持参数：IH、IH+、IH-锁定参数：IL、IL+、IL-基础配置：技术参数ENJ2005-B型主极电压10mV-2000V主极电流100nA-50A扩展电流100A、200A、400A、500A电压分辨率1mV电流分辨率100nA测试精度0.5%+2LSB测试速度0.5mS/参数)