特性阻抗測試系統(ControlledImpedancetestsystems)，型***：CITS900S4，生產商：英國POLAR公司，IP50探头。POLARCITS900S4提供了电路板控制阻抗量测的***解决方案,此***量测系统特别设计用于PCB生产线环境,操作极简单.生產商：英國POLAR公司，POLARCITS900S4提供了电路板控制阻抗量测的***解决方案,此***量测系统特别设计用于PCB生产线环境,操作极简单.CITS900S4由32bit软件控制,使用TDR技术去量测快速上升时间之脉波的反射信号,提供沿着铜轨长度上的图形化特性阻抗显示.每台CITS900S4的整个电阻量测范围上,确保皆为高精度性能,因为使用32bit软件,并于出厂前使用可追塑至国际标准的28,50,75及100ohm的标准Airline作4点全范围自动校正,另用resistorbox对150，180档位进行校正，并提供校正报告.此系统提供了PCB单端线路及差动线路的简易,准确测量方法。测量控制阻抗阻抗测量通常使用时域反射计(TDR)来完成。TDR通过控制阻抗线缆和探针向试样应用快速电压步长。任何脉冲微波中的反射都将显示在TDR上，并且表示阻抗值的变化（称为不连续性。）TDR可以表明不连续性的位置和幅度。使用适当的软件，TDR可以绘制试样的测试迹线长度上的阻抗图。所生成的迹线特性阻抗的图形化表示将允许在生产环境中执行此前所述的复杂测量。)