名称：高加速寿命试验装置（HAST）用途：半导体、电子组件、塑封器件/材料、光器件、PCB等稳态湿热（不饱和加压蒸汽）试验，磁性材料失重试验制造商：株式会社平山制作所（HIRAYAMA）特点：1、独特的无结露设计。2、双腔体设计。3、抽屉式滑动托盘设计。4、饱和试验（STD）和不饱和试验（HUM）两种试验模式。5、电子自动门锁紧结构。6、多种排气方式。7、可依据客户需要，选配不同试验夹具技术特性：型号PC-242HSR2内腔体尺寸Φ240×D410mmDM×MMΦ×××温度范围105.0to144.4degC湿度范围75to100%RH压力范围0.019to0.208MPa连续试验时间200Hours)