瑞典XCounter双能光子计数X射线探测器XC-FLITEX系列http://nd.cn/cn/product/product-69-72.html***板探测器，直接成像探测器，MINI平板，CdTe-CMOS传感器，光子计数探测器，双能光子计数X射线探测器，X射线探测器，CMOS传感器，线阵探测器，线阵探测器，平板探测器，微型平板探测器产品描述XC-FLITEX1、X2、X3是直接数字转换、自扫描、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，XC-FLITEX系列适用于潜在宽泛的能量范围。XC-FLITEX系列可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式，扫描速度***高90mm/s。引进反符合技术的双能采集功能，是XC-FLITEX系列产品的***之处，在双能采集过程中，通过两个***的阈值将探测到的光子能量加以比较，并分别读出，双能设置可用作材料分析，这为新的***和工业X射线成像技术开启了大门。反符合技术的运用，确保将每一个光子信号分布在适当的像素点上，从而获得更高的能量分辨率。XC-FLITEX系列的产品内部具有一个精心设计的扫描驱动元件，可自动控制，整个扫描过程是完全透明可见的。集成XC-FLITEX系列，通过GigE接口将XC-FLITEX系列连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有XC-FLITEX的功能；可用在WindowsXP、Vista、Windows7和Windows8系统平台应用*小范围辐照*小动物成像*实验室样品和标本成像*工业检测（NDT）特点&优势*三种尺寸可选*CdTe-CMOS传感器，高品质成像*自扫描设计，透明可见*双能采集，具有材料区分能力*反符合技术，***的能量分辨率*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式*扫描速度***高90mm/s*兼容Windows操作系统，从XP到Windows8*配有功能强大的系统软件技术参数物理参数尺寸（L×W×H）：XC-FLITEX1：32.9×22.0×5.5cmXC-FLITEX2：54.2×40.2×8.7cmXC-FLITEX3：63.0×57.1×8.5cm成像面积：X1：15cm×15cmX2：30cm×30cmX3：45cm×45cm温度控制：InternalPeltier温度控制环境温度：+10-+40℃储藏温度：-10-+60℃@10%-95%湿度射线窗：碳纤维，厚500μm射线屏蔽：根据应用传感器传感器数量：X1：1X2：2X3：3传感器类型：双能光子计数CdTe-CMOS传感器厚度：0.75mm-2.0mmCdTe有效面积：X1：154.7×12.8mm(1536×128像素)X2：309.4×12.8mm(3072×128像素)X3：464.1×12.8mm（4608×128像素）像素：100μm像素填充率：100%性能***大扫描速度：X1：90mm/sX2&X3：255mm/s帧率：***高1000fps（也可选择时间延迟总和模式）动态范围：12bits像素合并：1×1，2×2，4×4***时间：100μs-5sDQE（0）：85%@RQA5spectraMTF：＞80%@2lp/mm＞45%@5lp/mm管KV范围：15-250kVp内部测试模式：伪随机调试模式外部触发输出：3.3VTTL输入：5V滞后：0%拖影：＜0.1%X射线开启后1分钟，（12μGy）分辨率和DQE曲线（反符合开CCon和闭CCoff）)