瑞典XCounter双能光子计数X射线探测器PDT25-DE
http://nd.cn/cn/product/product-69-ml瑞典XCounter双能光子计数X射线探测器PDT25-DE***板探测器,直接成像探测器,MINI平板,CdTe-CMOS传感器,光子计数探测器,双能光子计数X射线探测器,X射线探测器,CMOS传感器,线阵探测器,线阵探测器,平板探测器,微型平板探测器产品描述:PDT25-DE紧凑型、直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器,用于数字X射线成像系统,基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成,PDT25-DE是一个小视场探测器,适用于潜在宽泛的能量范围。PDT25-DE可以基于帧率成像,也可以采用时间延迟总和(TDS)模式。引进反符合技术的双能采集功能,是PDT25-DE***之处,在双能采集过程中,通过两个***的阈值将探测到的光子能量加以比较,并分别读出,双能设置可用作材料分析,这为新的***和工业X射线成像技术开启了大门。反符合技术的运用,确保将每一个光子信号分布在适当的像素点上,从而获得更高的能量分辨率。集成通过高速率USB接口将PDT25-DE连接到计算机上,自带灵活的软件开发包,可控制所有PDT25-DE的功能;可用在WindowsXP、Vista、Windows7和Windows8系统平台上。应用*小范围辐照*小动物成像*实验室样品和标本成像*反向散射成像*工业检测(NDT)特点和优势*CdTe-CMOS传感器,高品质成像*双能采集,具有材料区分能力*反符合技术,***的能量分辨率*可基于帧率成像,也可以选择时间延迟总和(TDS)模式*兼容Windows操作系统,从XP到Windows8*配有功能强大的系统软件技术参数物理参数尺寸(L×W×H):94×54×20mm重量:150g(235g带钨防护)温度控制:InternalPeltier温度控制环境温度:+15-+45℃储藏温度:-10-+50℃@10%-95%湿度***大消耗功率:10W射线窗:碳纤维,厚250μm射线屏蔽:根据应用传感器传感器类型:双能光子计数CdTe-CMOS传感器厚度:0.75mm-2.0mmCdTe有效面积:25.6×25.6mm2像素:100μm像素填充率:100%性能帧率:***高35fps动态范围:12bits***时间:100μs-5s(通过软件,可以设置更长时间)DQE(0):85%@RQA5spectraMTF:>80%@2lp/mm>45%@5lp/mm管KV范围:15-140kVp内部测试模式:伪随机调试模式外部触发输出:3.3VTTL输入:3-15V滞后:0%拖影:<0.1%X射线开启后1分钟(12μGy)分辨率和DQE曲线(反符合开CCon和闭CCoff))
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