~瑞典XCounter双能探测器光子计数直接转换能量分辨•XCounter采用CdTe作为直接转换X射线探测器的转换材料•直接转换X射线探测器具有更好的空间分辨率•可获得更小细节的清晰图像•动态范围大，这对于获取整幅图像非常重要•光子计数，具有更高的灵敏度，可在非常低的剂量下工作•采用双能***，具有区分材料的能力双能•XCounter具有能量分辨能力，可以分辨出不同的材料•一次X射线获取，可记录两种不同能量的X射线吸收剂量•利用不同***和骨骼的吸收剂量的不同的特点，可以从图像中把它们区分出来•使得XCounter在***和工业领域独具特色•独特的卖点独特的传感器•FLITE?0.75mm/1mmCdTe***大225kV?成像面积150mmx25.6mm,12.8mm,或6.4mm?拼接的探测器?100um像素?TDS快速扫描?模块设计，电子器件可再生利用，重组变成一个新的产品，同样的板子可适用于不同宽度?板子和板子之间的通讯允许链接?可对接的，以形成一个区域探测器?单一的开发库基础材料•一块PCB板，适用于所有的探测器•传感器阵列和PCB之间灵活连接，可以有不同的形式（未展示）串联拼接探测器•串联拼接，形成更长的线阵探测器•***长至1m产品描述XC-FLITEFX1、FX2、FX3是直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，XC-FLITEX系列适用于潜在宽泛的能量范围。XC-FLITEX系列可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式。引进反符合技术的双能采集功能，是XC-FLITEFX系列产品的***之处，在双能采集过程中，收集到的光子能量分别设置为两个***的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为***和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进，可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上，以获取更高的能量分辨率。集成XC-FLITEFX系列，通过GigE接口将XC-FLITEFX系列连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有XC-FLITEFX的功能；可用在WindowsXP、Vista、Windows7和Windows8系统平台应用*小范围辐照*小动物成像*实验室样品和标本成像*工业检测（NDT）特点&优势*三种尺寸可选*CdTe-CMOS传感器，高品质成像*双能采集，具有材料区分能力*反符合技术，***的能量分辨率*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式*兼容Windows操作系统，从XP到Windows8*绑定强大的可编程的开发软件基本参数物理参数尺寸（L×W×H）XC-FLITEFX1：23.1×13.1×6.0cmXC-FLITEFX2：38.6×13.1×6.5cmXC-FLITEFX3：54.0×13.1×6.5cm温度控制内部的珀尔帖效应温度控制环境温度+10-+40℃储藏温度-10-+60℃@10%to95%湿度射线窗碳纤维，厚500μm射线屏蔽根据应用传感器传感器数量FX1：1FX2：2FX3：3传感器类型双能光子计数CdTe-CMOS传感器厚度0.75mm-2.0mmCdTe有效面积FX1：154.7×12.8mm(1536×128像素)FX2：309.4×12.8mm(3072×128像素)FX3：464.1×12.8mm（4608×128像素）像素100μm像素填充率100%性能帧率***高1000fps（也可选择时间延迟求和模式）动态范围12bits图像面元1×1，2×2，4×4成像时间100μs-5sDQE（0）DetectiveQuantumEfficiency85%@RQA5spectraMTFModulationTransferFunction＞80%@2lp/mm＞45%@5lp/mm管KV范围15-250kVp内部测试图样Pseudo-randomdebugpattern外部触发输出3.3VTTL输入5V滞后0%拖影＜0.1%X射线开启后1分钟，（12μGy）分辨率和DQE曲线（反符合开CCon和闭CCoff）产品描述：PDT25-DE紧凑型、直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，PDT25-DE是一个小视场探测器，适用于潜在宽泛的能量范围。PDT25-DE可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式。引进反符合技术的双能采集功能，是PDT25-DE***之处，在双能采集过程中，探测到的光子能量分别设置为两个***的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为***和工业新成像技术开启了大门。采用反符合技术，可以确保将每一个光子信号分布在正确的像素点上，以获取更高的能量分辨率。集成通过高速率USB接口将PDT25-DE连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有PDT25-DE的功能；可用在WindowsXP、Vista、Windows7和Windows8系统平台上。应用*小范围辐照*小动物成像*实验室样品和标本成像*反向散射成像*工业检测（NDT）特点和优势*CdTe-CMOS传感器，高品质成像*双能采集，具有材料区分能力*反符合技术，***的能量分辨率*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式*兼容Windows操作系统，从XP到Windows8*绑定强大的可编程的开发软件技术参数物理参数尺寸（L×W×H）94×54×20mm重量150g（235g带钨防护）温度控制内部的珀尔帖效应温度控制环境温度+15-+45℃储藏温度-10-+50℃@10%-95%湿度***大消耗功率10W射线窗碳纤维，厚250μm射线屏蔽根据应用传感器传感器类型双能光子计数CdTe-CMOS传感器厚度0.75mm-2.0mmCdTe有效面积25.6×25.6mm2像素100μm像素填充率100%性能帧率***高35fps动态范围12bits成像时间100μs-5s（通过软件，可以设置更长时间）DQE（0）DetectiveQuantumEfficiency85%@RQA5spectraMTFModulationTransferFunction＞80%@2lp/mm＞45%@5lp/mm管KV范围15-140kVp内部测试图样Pseudo-randomdebugpattern外部触发输出3-3VTTL输入3-15V滞后0%拖影＜0.1%X射线开启后1分钟（12μGy）分辨率和DQE曲线（反符合开CCon和闭CCoff）产品描述XC-FLITEX1、X2、X3是直接数字转换、自扫描、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，XC-FLITEX系列适用于潜在宽泛的能量范围。XC-FLITEX系列可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式，扫描速度***高90mm/s。引进反符合技术的双能采集功能，是XC-FLITEX系列产品的***之处，在双能采集过程中，收集到的光子能量分别设置为两个***的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为***和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进，可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上，以获取更高的能量分辨率。所有精心设计的运动部件需要在XC-FLITEX系列的内部自动控制，整个扫描过程是透明可见的。集成XC-FLITEX系列，通过GigE接口将XC-FLITEX系列连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有XC-FLITEX的功能；可用在WindowsXP、Vista、Windows7和Windows8系统平台应用*小范围辐照*小动物成像*实验室样品和标本成像*工业检测（NDT）特点&优势*三种尺寸可选*CdTe-CMOS传感器，高品质成像*自扫描设计，透明可见*双能采集，具有材料区分能力*反符合技术，***的能量分辨率*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式*扫描速度***高90mm/s*兼容Windows操作系统，从XP到Windows8*绑定强大的可编程的开发软件技术参数单基本参数物理参数尺寸（L×W×H）XC-FLITEX1：32.9×22.0×5.5cmXC-FLITEX2：54.2×40.2×8.7cmXC-FLITEX3：63.0×57.1×8.5cm温度控制内部的珀尔帖效应温度控制环境温度+10-+40℃储藏温度-10-+60℃@10%-95%湿度射线窗碳纤维，厚500μm射线屏蔽根据应用传感器传感器数量X1：1X2：2X3：3传感器类型双能光子计数CdTe-CMOS传感器厚度0.75mm-2.0mmCdTe有效面积X1：154.7×12.8mm(1536×128像素)X2：309.4×12.8mm(3072×128像素)X3：464.1×12.8mm（4608×128像素）像素100μm像素填充率100%性能***大扫描速度X1：90mm/sX2&X3：255mm/s帧率***高1000fps（也可选择时间延迟总和模式）动态范围12bits图像面元1×1，2×2，4×4成像时间100μs-5sDQE（0）DetectiveQuantumEfficiency85%@RQA5spectraMTFModulationTransferFunction＞80%@2lp/mm＞45%@5lp/mm管KV范围15-250kVp内部测试图样Pseudo-randomdebugpattern外部触发输出3.3VTTL输入5V滞后0%拖影＜0.1%X射线开启后1分钟，（12μGy）分辨率和DQE曲线（反符合开CCon和闭CCoff）)