11851-1106 背照式CCD面阵传感器
降低标准具效应、象元温度恒温控制S11850-1106/11851-1106是适用于分光光度测量的背照式CCD。两种类型可选,一种是低噪声类型(S11850-1106),一种是高速型(S11851-1106),它们都降低了标准具效应。从紫外到近红外波段,它们具有几乎平滑的光谱响应特性,还有着高量子效率。封装内部有热电制冷器,可以保持象元温度在工作时恒定(约5摄氏度)。特性-降低标准具效应-平滑的响应曲线-一级温度控制-CCD结灵敏度高:8μV/e--高满井容量,宽动态范围(带抗溢流功能)详细参数类型低标准具效应型感光面积28.672x0.896mm像素尺寸14x14μm像素间距14μm有效像素个数2048x64pixels封装金属帧速率(典型值)651frames/s光谱响应范围200to1100nm饱和电荷量(垂直)60ke-暗电流(典型值)50e-/pixel/s读出噪声(典型值)23e-rms测试条件Ta=25℃,除非注明,均为典型值。帧速率:满线合并(fulllinebinning),暗电流:MPP模式)
深圳市磊坚光电设备有限公司
业务 QQ: 1903656788