台式微区X射线荧光光谱仪M1MISTRAL台式微区X射线荧光光谱仪用于大件样品与镀层样品的无损分析无需任何准备即可分析任何形状的样品M1MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪，可对大件样品盒镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围：原子序数Z=22（钛）以上的所有元素。因此，它可以分析的物质范围较广，譬如金属、合金、金属镀层，包括多层镀层样品。样品尺寸***大可达100x100x100mm，无需任何处理，直接放在样品台上检测。光管位于样品上方，测量过程中不接触样品，因此可以很容易地分析复式样的样品，如精工细作的珠宝或者不同厚度的样品。可以***测量用户的所需的位置M1MISTRAL的微焦斑X射线光管，即使光斑小到100μm也可以产生足够的射线强度，光斑大小取决于所使用的准直器。采用视频显微镜进行准确***，可以测量任何想测的位置。可选的计算机控制的自动样品台，并自动聚焦。超快检测系统，迅速产生结果M1MISTRAL可配有两种不同的X射线探测器：大面积充气正比计数器，可用于质量控制中的标准应用；或者配置硅漂移探测器，具有超快的检测速度盒非常好的能量分辨率，检出限可以达到0.01%（重量比）。***的探测器，数字脉冲处理器及优化的几何结构，确保了X射线探测的***大效率，能够快速地得到准确的分析结果。易使用，免维护M1MISTRAL及XSpect软件的设计，让操作人员只需经过简单的培训即可使用。仅一个电源接口就可以运行仪器，采用空气冷却，无需消耗品。紧固的结构确保***高的稳定性，并完全免维护。珠宝及合金分析M1MISTRAL是珠宝、***及***的理想分析工具。所有珠宝合金、铂族金属及银制品，不到1分钟就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分比或K(克拉)表示测量RoHS检测要求高性能的M1MISTRAL也可以测量RoHS指令限定的轻基体的痕量元素。直接控制电气产品中***元素的浓度。测量镀层样品采用X射线荧光技术的M1MISTRAL可以分析薄镀层样品，如印刷电路板、金属或塑料件，包括单层镀层和多层多层。XSpect软件采用无标样基本参数法，可以同时计算镀层厚度和镀层组成。使用标准样品可以进一步提高定量分析的准确性。部分应用简介M1MISTRAL的应用领域很广，我们选择3个常见的例子进行简要介绍。珠宝检测黄金白金铂（Pt）合金银（Ag）合金精度：优于0.2wt%可分析的多层镀膜样品可以测定镀层样品的镀层厚度及成分，例如：Zn-FeAu-Ni-CuAu-Pd-Ni-FeCuSn-Ni-CuAu-Pd-Ni-CuXSpect分析软件XSpect软件具有以下功能：仪器控制，数据采集与处理谱峰识别定量分析，采用无标样法和基于标样的经验系数法镀层样品分析，可分析镀层厚度和成分采用基本参数法编辑特定镀层的分析方法报告输出参数M1MISTRTALpcM1MISTRTA***D元素分析范围Ti（22）-U（92）Na（11）-U（92）激发源高性能微焦斑光管，W靶，玻璃视窗高性能微焦斑光管，W靶，玻璃视窗电压及功率50kV，50W；可选40kV，40W50kV，50W探测器大面积正比计数器，1100mm2感应面积Peltier制冷高性能XFlashR硅漂移探测器，30mm2感应面积，对Mn-Ka能量分辨率<150eV光斑尺寸准直器：固定或4个自由切换，Φ0.1到Φ2mm准直器：固定或4个自由切换，Φ0.2到Φ2mm样品观察高分辨率彩色摄像系统，放大倍率20-40倍高分辨率彩色摄像系统，放大倍率20-40倍样品台马达驱动Z方向样品台，自动对焦，选项：马达驱动X-Y-Z样品台便捷进样功能马达驱动X-Y-Z样品台便捷进样功能定量分析块状样品：基于标样的经验系数法模式和无标样模式镀层分析：FP-基数参数法模式块状样品：基于标样的经验系数法模式和无标样模式镀层分析：FP-基数参数法模式电源110-230VAC；50/60Hz，***大功率100W110-230VAC；50/60Hz，***大功率120W尺寸（宽ⅹ深ⅹ高）550ⅹ700ⅹ430mm550ⅹ700ⅹ430mm重量46kg50kg)