上海低温老化测试
(高温运行、高温贮存)的目的是确定军民用设备、零部件在常温条件下储存和工作的储存、使用的适应性及耐久性。确认材料高温下的性能。为能正确观察与验证产品在高温环境下之热效应,同时避免因湿度效应影响试验结果,标准中对于试验前处理、试验初始检测、样品安装、中间检测、试验后处理、升温速度、温度柜负载条件、被测物与温度柜体积比等均有规范要求。高温条件下试件的失效模式产品所使用零件、材料在高温时可能发生软化、效能降低、特性改变、潜在***、氧化等现象。参考标准:IEC60068-2-2:2007《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验B:高温》GJB128A-97《半导体分立器件试验方法》MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》GJB4.2-83《舰船电子设备环境试验高温试验》GJB360A-96电子及电气元件试验方法方法108高温寿命试验MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》GJB548A-96《微电子器件试验方法和程序》MIL-STD-883D《微电子器件试验方法和程序》SJ/T10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》4.1高温负荷试验SJ/T10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》4.2高温贮存试验GB/T13543-92《数字通信设备环境试验方法》QC/T413-2002《汽车电气设备基本技术条件》YD/T1591-2009《移动通信手持机充电器及接口技术要求和测试方法》)
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